[实用新型]探针组件及四线法探针测试组件有效

专利信息
申请号: 202122234234.0 申请日: 2021-09-15
公开(公告)号: CN216160701U 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 刘月敏 申请(专利权)人: 深圳市联合东创科技有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R27/02
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 骆英静
地址: 518100 广东省深圳市龙华区福城街道福民*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 探针 组件 四线法 测试
【权利要求书】:

1.一种探针组件,其特征在于,包括间隔设置的两检测探针,其中,两所述检测探针均用于电连接至待检测的产品的同一检测点;

所述检测探针包括针筒和位于所述针筒靠近所述检测点一端的针头;

所述针头位于所述针筒的轴线偏向另一所述检测探针的一侧,使得两所述针头的针尖之间的距离小于两所述针筒的轴线之间的距离。

2.根据权利要求1所述的探针组件,其特征在于,所述针头与所述检测点连接的一端的端面为倾斜平面结构;

两所述倾斜平面之间的距离朝靠近所述检测点的方向逐渐减小。

3.根据权利要求1所述的探针组件,其特征在于,所述针头与所述检测点连接的一端的端面为圆弧曲面结构。

4.根据权利要求1所述的探针组件,其特征在于,所述检测探针由铜制成。

5.根据权利要求1所述的探针组件,其特征在于,所述针筒内部设有用于驱使所述针头往靠近所述检测点的方向运动的弹簧。

6.一种四线法探针测试组件,用于对待测试的产品上的第一检测点和第二检测点之间的电阻进行检测,其特征在于,包括两组权利要求1~5任一项所述的探针组件;

一组所述探针组件的两检测探针分别记为第一探针和第二探针;另一组所述探针组件的两检测探针分别记为第三探针和第四探针;

所述第一探针和第二探针均用于电连接至第一检测点,与所述第一探针构成一检测回路的第三探针、与第二探针构成另一检测回路的第四探针均用于电连接至所述第二检测点。

7.根据权利要求6所述的四线法探针测试组件,其特征在于,还包括用于容纳两组所述探针组件的壳体;

所述壳体上设有两贯穿孔,每一组所述探针组件的针头穿过一所述贯穿孔延伸至与对应的检测点抵持。

8.根据权利要求7所述的四线法探针测试组件,其特征在于,所述针头朝向所述贯穿孔的孔壁的一侧设有限位平面,以限制所述针头发生转动。

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