[实用新型]一种中子反射谱仪的中子光路的调整结构

说明书

本实用新型公开了一种中子反射谱仪的中子光路的调整结构，包括第一电机、第一狭缝、固定圈、极化管、转轴、第二狭缝、入射工作台、支撑脚、聚焦导管、底板、光栅读数头、第一滑轨、样品、第一圆齿条、光栅、直齿条、第一齿轮、第二电机、第三电机、第二齿轮、第三狭缝、第一滑块、反射工作台、第四电机、极化分析管、探测器、第一支柱、升降底座、第三齿轮、第二圆齿条、横板、第二支柱、第五电机、丝杆、螺纹套、第二滑块、竖板、第二滑轨、横杆、样品台，所述入射工作台上左侧设有第二支柱，所述第二支柱顶端设有第一狭缝，所述第二支柱中部设有左侧设有第一电机，所述第一电机上连接有转轴。

技术领域

本实用新型涉及中子反射技术领域，尤其是涉及一种中子反射谱仪的中子光路的调整结构。

背景技术

中子反射谱仪的光路区域主要分成两部分：入射光路区域和反射光路区域，入射光路在靠近样品处会布置数台狭缝，以实现对入射中子束大小进行调节，因此反射谱仪的入射光路一般也仅指这一光路区域，长度一般有几米；反射光路用来约束通过样品后的中子束，通过采用中子飞行时间的办法可以实现测量数据的记录，即根据时间先后对散射或反射后的中子进行标定其长度从样品点开始到达探测器，一般是2-3m在此光路区域上也需要布置数台狭缝，或其他屏蔽材料，其中狭缝通常由中子吸收材料做成的两片水平刀片和两片竖直刀片及刀片的驱动机构组成，因此狭缝的开口范围可调，通过两到三组狭缝可以截取出具有高分辨率的中子束。

现有的反射谱仪只能进行单一的实验，只能进行极化实验或者非极化实验其中的一种，要进行另一种实验时要换一种谱仪，这样会造成浪费，而且结构复杂，光路的调整困难。

实用新型内容

本实用新型为克服上述情况不足，旨在提供一种能解决上述问题的技术方案。

一种中子反射谱仪的中子光路的调整结构，包括第一电机、第一狭缝、固定圈、极化管、转轴、第二狭缝、入射工作台、支撑脚、聚焦导管、底板、光栅读数头、第一滑轨、样品、第一圆齿条、光栅、直齿条、第一齿轮、第二电机、第三电机、第二齿轮、第三狭缝、第一滑块、反射工作台、第四电机、极化分析管、探测器、第一支柱、升降底座、第三齿轮、第二圆齿条、横板、第二支柱、第五电机、丝杆、螺纹套、第二滑块、竖板、第二滑轨、横杆、样品台，所述入射工作台上左侧设有第二支柱，所述第二支柱顶端设有第一狭缝，所述第二支柱中部设有左侧设有第一电机，所述第一电机上连接有转轴，所述转轴的末端铰接在右侧的第二支柱上，所述转轴上设有聚焦导管和极化管，所述工作台的右端设有第二狭缝，所述第二狭缝的右侧设有样品台，所述样品台的外壁中部设有第一圆齿条，所述圆齿条右侧设有与它相互啮合的第二齿轮，所述第二齿轮下方连接有第三电机，所述样品台铰接在底板上，所述底板的底部左右两侧设有第一滑块，所述第一滑块下方设有第一滑轨，所述底板的底部中间设有第二电机，所述第二电机上连接有第一齿轮，所述第一齿轮的下方设有与它相互啮合的齿条直，所述样品台的右侧设有第三狭缝，所述第三狭缝右侧设有极化分析管，所述极化分析管中部设有固定圈，所述固定圈上连接有横杆，所述横杆的末端连接在螺纹套上，所述螺纹套套在丝杆上，所述螺纹套左右两侧连接有第二滑块，所述第二滑块上连接有与它配合使用的第二滑轨，所述第二滑轨底部连接在升降底座的表面，所述升降底座右端设有探测器，所述升降底座左端铰接在反射工作台上，所述反射工作台右侧设有横板，所述横板的表面右端设有第二圆齿条，所述第二圆齿条上设有与它配合使用的第三齿轮、所述第三齿轮左侧连接有第五电机，所述第五电机固定在升降底座底部。

优选地，所述样品台上底部设有光栅和光栅读数头，便于测量出样品台转动的角度。

优选地，所述第二滑轨固定在竖板上，便于升降极化分析管。

优选地，所述第一狭缝、第二狭缝、第三狭缝的底部都设有第二支柱。

优选地，所述第一工作和反射工作台的底部都设有支撑脚，避免第一工作和反射工作台直接跟地面接触防止工作台被腐蚀。

优选地，所述第一电机为步进电机且每次转动为一百八十度，便于控制转轴转动，转动精度高。