[实用新型]一种中子反射谱仪的中子光路的调整结构

权利要求书

1.一种中子反射谱仪的中子光路的调整结构，包括第一电机、第一狭缝、固定圈、极化管、转轴、第二狭缝、入射工作台、支撑脚、聚焦导管、底板、光栅读数头、第一滑轨、样品、第一圆齿条、光栅、直齿条、第一齿轮、第二电机、第三电机、第二齿轮、第三狭缝、第一滑块、反射工作台、第四电机、极化分析管、探测器、第一支柱、升降底座、第三齿轮、第二圆齿条、横板、第二支柱、第五电机、丝杆、螺纹套、第二滑块、竖板、第二滑轨、横杆、样品台，其特征在于，所述入射工作台上左侧设有第二支柱，所述第二支柱顶端设有第一狭缝，所述第二支柱中部设有左侧设有第一电机，所述第一电机上连接有转轴，所述转轴的末端铰接在右侧的第二支柱上，所述转轴上设有聚焦导管和极化管，所述工作台的右端设有第二狭缝，所述第二狭缝的右侧设有样品台，所述样品台的外壁中部设有第一圆齿条，所述圆齿条右侧设有与它相互啮合的第二齿轮，所述第二齿轮下方连接有第三电机，所述样品台铰接在底板上，所述底板的底部左右两侧设有第一滑块，所述第一滑块下方设有第一滑轨，所述底板的底部中间设有第二电机，所述第二电机上连接有第一齿轮，所述第一齿轮的下方设有与它相互啮合的齿条直，所述样品台的右侧设有第三狭缝，所述第三狭缝右侧设有极化分析管，所述极化分析管中部设有固定圈，所述固定圈上连接有横杆，所述横杆的末端连接在螺纹套上，所述螺纹套套在丝杆上，所述螺纹套左右两侧连接有第二滑块，所述第二滑块上连接有与它配合使用的第二滑轨，所述第二滑轨底部连接在升降底座的表面，所述升降底座右端设有探测器，所述升降底座左端铰接在反射工作台上，所述反射工作台右侧设有横板，所述横板的表面右端设有第二圆齿条，所述第二圆齿条上设有与它配合使用的第三齿轮、所述第三齿轮左侧连接有第五电机，所述第五电机固定在升降底座底部。

2.根据权利要求1所述的一种中子反射谱仪的中子光路的调整结构，其特征在于，所述样品台上底部设有光栅和光栅读数头。

3.根据权利要求1所述的一种中子反射谱仪的中子光路的调整结构，其特征在于，所述第二滑轨固定在竖板上。

4.根据权利要求1所述的一种中子反射谱仪的中子光路的调整结构，其特征在于，所述第一狭缝、第二狭缝、第三狭缝的底部都设有第二支柱。

5.根据权利要求1所述的一种中子反射谱仪的中子光路的调整结构，其特征在于，所述第一工作和反射工作台的底部都设有支撑脚。

6.根据权利要求1所述的一种中子反射谱仪的中子光路的调整结构，其特征在于，所述第一电机为步进电机且每次转动为一百八十度。