[实用新型]一种电路图形的处理装置有效
| 申请号： | 202122137783.6 | 申请日： | 2021-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN216607621U | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 张雷 | 申请（专利权）人： | 苏州源卓光电科技有限公司 |
| 主分类号： | B23K26/21 | 分类号： | B23K26/21;B23K26/70;H01L21/67;B23K101/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215026 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 电路 图形 处理 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种电路图形的处理装置，其特征在于：所述重布线层的电路图形的处理装置包括对位检测系统、图像生成系统、投影系统、图形检测系统和承载系统，所述承载系统在所述对位检测系统和所述投影系统对应的区域移动，所述对位检测系统与所述图像生成系统通信，所述图像生成系统与所述投影系统通信，所述对位检测系统与所述图形检测系统通信。
2.根据权利要求1所述的处理装置，其特征在于：所述承载系统包括承载台面和驱动机构，所述承载台面的至少一侧设置有检测件。
3.根据权利要求2所述的处理装置，其特征在于：所述检测件设置于所述承载台面的相邻两侧。
4.根据权利要求2所述的处理装置，其特征在于：所述检测件包括光敏层或热敏层。
5.根据权利要求1所述的处理装置，其特征在于：所述承载系统包括第一承载台面和第二承载台面，所述对位检测系统包括第一对位检测系统和第二对位检测系统，分别对应于第一承载台面和第二承载台面。
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