[实用新型]一种提高MIM电容布线资源的版图结构有效

专利信息
申请号: 202122117945.X 申请日: 2021-09-03
公开(公告)号: CN215834524U 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 梁丕振 申请(专利权)人: 深圳市爱协生科技有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/522;H01L23/528
代理公司: 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 代理人: 卢正伟
地址: 518000 广东省深圳市宝安区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 mim 电容 布线 资源 版图 结构
【说明书】:

实用新型涉及电容技术领域,尤其是一种提高MIM电容布线资源的版图结构,包括下电极层,所述下电极层的顶部设置有介质层,所述介质层上沿单纵向或单横向规则排列有多组通孔,且介质层上设置有走线区,所述通孔的顶部覆盖有上电极层,所述上电极层的延伸方向与通孔的排列方向相同、且通过通孔与介质层连通,减少通孔和上电极层连线的空间,提高了其它布线资源的利用,从而解布线困难问题,因此可能会减少Metal层数,或者减少扩大面积的机会,从而减少成本。

技术领域

本实用新型涉及电容技术领域,尤其涉及一种提高MIM电容布线资源的版图结构。

背景技术

超大规模集成电路中,电容是常用的无源器件之一。其中,MIM电容是集成电路中的重要元器件,MIM电容是利用上下两层metal之间的C,即电极层电容,上电极层为MN,下电极层为MN-1,因为普通的MN和MN-1在三维空间隔着氧化层离得比较远,所以C并不大。故MIM会引入一层介质层CTM,这一层做在MN-1上面,MN下面,用VIA(通孔)与MN相连。

传统的MIM电容版图结构如附图的图1所示,传统的MIM电容版图设计方法是先设计一层下电极层,接着设计一层介质层,然后在介质层上打通孔并且打满,最后上电极层通过通孔与介质层连接,上电极层和介质层可以完全重合.MIM电容在产品中大面积应用下,MIM电容的上电极层和下电极层会占据非常多的metal布线资源,占据非常大的metal布线空间,从而导致metal布线资源紧缺,因此需要增加面积来获得更多的布线空间,或者需要增加metal层数来解决布线紧缺的问题,因此需要增加芯片面积,或者需要增加metal层数,从而增加成本。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在布线资源紧缺等缺点,而提出的一种提高MIM电容布线资源的版图结构。

为了实现上述目的,本实用新型采用了如下技术方案:

设计一种提高MIM电容布线资源的版图结构,包括下电极层,所述下电极层的顶部设置有介质层,所述介质层上沿单纵向或单横向规则排列有多组通孔,且介质层上设置有走线区,所述通孔的顶部覆盖有上电极层,所述上电极层的延伸方向与通孔的排列方向相同、且通过通孔与介质层连通。

优选的,所述通孔纵向排列有四组,所述上电极层与走线区平行设置。

优选的,所述通孔为横向排列有五组,所述上电极层与走线区平行设置。

优选的,所述通孔横向排列有两组,所述走线区呈U型结构,所述通孔设置在走线区的开口内侧。

优选的,所述走线区包括至少一组线区,两组以上所述线区能够设置在上电极层的两侧或边侧。

本实用新型提出的一种提高MIM电容布线资源的版图结构,有益效果在于:通过减少通孔和上电极层连线的空间,提高了其它布线资源的利用,从而解布线困难问题,因此可能会减少Metal层数,或者减少扩大面积的机会,从而减少成本。

附图说明

图1现有技术中MIM电容的结构示意图;

图2为本实用新型提出的一种提高MIM电容布线资源的版图结构的实施例一结构示意图;

图3为本实用新型提出的一种提高MIM电容布线资源的版图结构的实施例一的另一结构示意图;

图4为本实用新型提出的一种提高MIM电容布线资源的版图结构的实施例二结构示意图;

图5为本实用新型提出的一种提高MIM电容布线资源的版图结构的实施例二的另一结构示意图;

图6为本实用新型提出的一种提高MIM电容布线资源的版图结构的实施例三结构示意图。

图中:1、下电极层;2、介质层;3、通孔;4、走线区;401、线区;5、上电极层。

具体实施方式

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