[实用新型]单相三相漏电自检测试和保护一体电路

说明书

本实用新型涉及漏电自检和保护技术领域，且公开了单相三相漏电自检测试和保护一体电路，包括第一相、第二相、第三相，第一相的一端与第二二极管的一端串联，第二二极管的另一端与第四二极管的一端串联，第四二极管的另一端与第六二极管的一端串联，该单相三相漏电自检测试和保护一体电路，通过工作人员使断路器本体测试按钮连接第一接口，继而通过工作人员按下测试按钮，使电流经第一相、第二相、第三相三相整流过后，继而使电流经过第一电阻、第四电阻连接到第一接口，继而使第一接口通过导线贯穿零序互感器连接到第一零线、第二零线，从而产生回路电流，继而通过零序互感器对电路中的电流进行测试，继而防止漏电检测异常。

技术领域

本实用新型涉及漏电自检和保护技术领域，具体为单相三相漏电自检测试和保护一体电路。

背景技术

电路是电流所流经的路径,或称电子回路，是由电气设备和元器件(用电器)，按一定方式联接起来。如电阻、电容、电感、二极管、三极管和开关等，构成的网络。

首先，在工作时，当需要使用三相四线断路器与单相断路器时，现有的三相四线断路器无法单独用做单相断路器进行使用，继而导致电路结构过多，继而使电路结构复杂，其次，现有的三相四线断路器与单相断路器在对电路进行保护时，无法对电路进行更好的保护，会使电路损坏造成资源损失。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了单相三相漏电自检测试和保护一体电路，具备漏电自检、漏电保护的优点，解决了以上背景技术提出的问题。

本实用新型提供如下技术方案：单相三相漏电自检测试和保护一体电路，包括第一相、第二相、第三相，所述第一相的一端与第二二极管的一端串联，所述第二二极管的另一端与第四二极管的一端串联，所述第四二极管的另一端与第六二极管的一端串联，所述第六二极管的另一端与第八二极管的一端串联，所述第二相的一端与第一二极管的一端串联，所述第一二极管的另一端与第三二极管的一端串联，所述第三二极管的另一端与第五二极管的一端串联，所述第五二极管的另一端与第七二极管的一端串联，所述第三相的一端与第九二极管的一端串联，所述第九二极管的另一端与第十二极管的一端串联，所述第十二极管的另一端与第十一二极管的一端串联，所述第十一二极管的另一端与第十二二极管的一端串联，所述第十二二极管的另一端与第一电阻的一端串联，所述第十二二极管的另一端与第七二极管的另一端串联，所述第七二极管的另一端与第八二极管的另一端串联，所述第一电阻的另一端与第二电阻的一端串联，所述第二电阻的另一端与第一电容的一端串联，所述第一电容的另一端分别与第一瞬态抑制二极管的一端、第三接口的一端、第二电容的一端、第三电阻的一端并联，所述第一电容的另一端与第一零线的一端串联，所述第一零线的一端分别与第一瞬态抑制二极管的一端、第三接口的一端、第二电容的一端、第三电阻的一端串联，所述第二电阻的一端与第四电阻的一端并联，所述第四电阻的另一端与第一可控硅的一端串联，所述第四电阻的另一端与第一接口的一端并联，所述第一可控硅的一端与第一瞬态抑制二极管的另一端串联，所述第一可控硅的另一端与第二接口的一端串联，所述第一可控硅的触发控制引脚分别与第二电容的另一端、第三电阻的另一端、第十三二极管的一端串联，所述第十三二极管的另一端与漏电自检器的一端串联。

精选的，所述第一电阻的另一端与第十四二极管的一端串联，所述第十四二极管的一端与第四接口的一端并联，所述第十四二极管的另一端与第二可控硅的一端串联，所述第十四二极管的另一端与第五接口并联，所述第二可控硅的一端与第二瞬态抑制二极管的一端并联，所述第二可控硅的另一端与第二零线串联，所述第二瞬态抑制二极管的另一端与第二零线的一端串联，所述第二零线的一端分别与第三电容的一端、第五电阻的一端并联，所述第二可控硅的触发控制引脚与第十五二极管的一端串联，所述第十五二极管的一端分别于第三电容的另一端、第五电阻的另一端并联，所述第十五二极管的另一端与脱扣器串联。

精选的，所述第四接口、第五接口为脱扣线圈接口，所述第一接口为漏电测试按钮接口，所述第二接口、第三接口为漏电自检接口。

精选的，所述第十五二极管、第十三二极管为保护二极管。