[实用新型]一种纳米晶材料检测设备

说明书

本实用新型提供了一种纳米晶材料检测设备，包括带孔传送带、真空箱、气管及相机；带孔传送带围绕所述真空箱设置；相机与所述真空箱的一侧相对设置；气管的一端连接所述真空箱，另一端用于连接真空源；真空箱靠近所述相机的一侧设置有通孔；本实用新型在检测时将纳米晶材料放置在带孔传送带上，则带孔传送带在经过真空箱时因其上放置有纳米晶带材挡住带孔传送带的孔，则真空箱通过通孔和带孔传送带上的孔将纳米晶材料吸附紧，使得相机和纳米晶材料之间的间距能够在相机拍照过程中保持稳定，避免因距离变化产生变焦出现图片模糊，提高了相机获取图片的清晰度，从而提高了发现鼓包等缺陷的准确度，提高了缺陷检测的准确率。

技术领域

本实用新型涉及质量检测领域，尤其涉及一种纳米晶材料检测设备。

背景技术

无线充电领域常使用纳米晶带材作为加工原材料。为了能够在利用纳米晶较高磁导率和较高饱和磁感应强度的同时避免纳米晶电阻率小、损耗高的问题，通常会引入碎磁工艺将纳米晶分割成小单元。

在现有技术中，通常使用碎磁辊对纳米晶带材进行碾压以实现对纳米晶的分割，在这个过程中可能会有少量的碎屑颗粒和纳米晶带材的碎裂产生，碎屑颗粒在后续多层纳米晶带材层叠的步骤中可能会导致最终成品出现鼓包。鼓包和隐藏的碎裂可能导致最终成品的厚度超标，从而在充电过程中使得电池超负荷导致电池爆炸；也可能会因为超出预留的位置从而刺破接收端线圈的绝缘层，导致充电的效率降低，影响用户的充电体验；还可能导致最终成品的屏蔽性能减弱，使得散热效率降低，为充电过程带来安全风险。

目前通常的检测方式还是通过相机抽检或是人工目测的方式进行，效率低下且容易漏失有缺陷的物料，检测准确率低，导致缺陷物料最终变成成品，影响生产效率的同时影响成品的良率。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种纳米晶材料检测设备，提高缺陷检测的准确率。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：

一种纳米晶材料检测设备，包括带孔传送带、真空箱、气管及相机；

所述带孔传送带围绕所述真空箱设置；

所述相机与所述真空箱的一侧相对设置；

所述气管的一端连接所述真空箱，另一端用于连接真空源；

所述真空箱靠近所述相机的一侧设置有通孔。

进一步地，所述带孔传送带上孔的密度与所述通孔的密度相同。

进一步地，所述真空箱的两侧分别设置有传送滚轴；

所述带孔传送带围绕所述传送滚轴及所述真空箱设置。

进一步地，所述气管设置在所述真空箱不与所述传送滚轴相对的一侧。

进一步地，所述气管包括多个，多个所述气管之间的间隔距离一致。

进一步地，还包括转动电机；

所述转动电机与所述传送滚轴连接。

进一步地，所述相机为CCD相机。

本实用新型的有益效果在于：设置真空箱和与真空箱相对的相机，真空箱靠近相机的一侧设置有通孔，传送带围绕真空箱且传送带为带孔传送带，真空箱侧面设置有连接真空源的气管，在检测时将纳米晶材料放置在带孔传送带上，则带孔传送带在经过真空箱时因其上放置有纳米晶带材挡住带孔传送带的孔，则真空箱通过通孔和带孔传送带上的孔将纳米晶材料吸附紧，使得相机和纳米晶材料之间的间距能够在相机拍照过程中保持稳定，避免因距离变化产生变焦出现图片模糊，提高了相机获取图片的清晰度，从而提高了发现鼓包等缺陷的准确度，提高了缺陷检测的准确率。

附图说明

图1为本实用新型实施例的一种纳米晶材料检测设备的主视图；