[实用新型]一种纳米晶材料检测设备有效
申请号: | 202121976116.0 | 申请日: | 2021-08-20 |
公开(公告)号: | CN216847523U | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 陆宣凯;王建中;徐毅;裴杰;李少波 | 申请(专利权)人: | 信维通信(江苏)有限公司 |
主分类号: | G01N21/892 | 分类号: | G01N21/892;G01N21/01;B65G15/58 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人: | 欧阳燕明 |
地址: | 213000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纳米 材料 检测 设备 | ||
1.一种纳米晶材料检测设备,其特征在于,包括带孔传送带、真空箱、气管及相机;
所述带孔传送带围绕所述真空箱设置;
所述相机与所述真空箱的一侧相对设置;
所述气管的一端连接所述真空箱,另一端用于连接真空源;
所述真空箱靠近所述相机的一侧设置有通孔。
2.根据权利要求1所述的一种纳米晶材料检测设备,其特征在于,所述带孔传送带上孔的密度与所述通孔的密度相同。
3.根据权利要求1所述的一种纳米晶材料检测设备,其特征在于,所述真空箱的两侧分别设置有传送滚轴;
所述带孔传送带围绕所述传送滚轴及所述真空箱设置。
4.根据权利要求3所述的一种纳米晶材料检测设备,其特征在于,所述气管设置在所述真空箱不与所述传送滚轴相对的一侧。
5.根据权利要求3所述的一种纳米晶材料检测设备,其特征在于,所述气管包括多个,多个所述气管之间的间隔距离一致。
6.根据权利要求3所述的一种纳米晶材料检测设备,其特征在于,还包括转动电机;
所述转动电机与所述传送滚轴连接。
7.根据权利要求1所述的一种纳米晶材料检测设备,其特征在于,所述相机为CCD相机。
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