[实用新型]半导体制冷片温差测试装置

说明书

本实用新型涉及半导体制冷片技术领域，特别涉及一种半导体制冷片温差测试装置，包括工作台、两个限位板、底板、温差测试仪、恒温器和半导体制冷片；底板固定在工作台上，恒温器固定在底板上，两个限位板相对固定在底板两侧，两个限位板相对的一侧均设置有卡槽，半导体制冷片安装在卡槽内，温差测试仪包括温度检测器、支架和两个导电片；支架固定在其中一个限位板顶面，温度检测器固定在支架上；工作台在两块限位板的一侧边固定有绝缘板，导电片固定在绝缘板上，导电片给半导体制冷片通电，解决了半导体制冷片热面的温度无法保持恒温的问题，提高温差测试的准确率。

技术领域

本实用新型涉及半导体制冷片技术领域，特别涉及半导体制冷片温差测试装置。

背景技术

半导体制冷片是一种由半导体所组成的一种冷却装置，利用半导体材料的特性，当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时，在电偶的两端分别吸收热量和放出热量实现制冷的目的，半导体制冷片的体积通常比较小巧，可靠性比较高，可以应用在空间受到限制的场所。

现有技术的半导体制冷片，在产品出厂前需要对其进行温差检测，当半导体制冷片上的温差不在预设阈值内时，即判断产品不合格，现有的半导体温差检测装置，检测时，先在半导体制冷片的正极接片和负极接片上焊接两根导线，然后通电，使半导体制冷片工作，再通过温度检测元件检测温差。在进行检测的过程中，半导体制冷片的热面的温度会一直上升，半导体制冷片热面的温度变化，无法保证半导体制冷片在恒温下进行测试，温差测试的准确率低，测试环境的稳定性和统一性差。

实用新型内容

为此，需要提供一种半导体制冷片温差测试装置,解决了半导体制冷片热面的温度无法保持恒温的问题，提高温差测试的准确率。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种半导体制冷片温差测试装置，包括工作台、两个限位板、底板、温差测试仪、恒温器和半导体制冷片；所述底板固定在工作台上，所述恒温器固定在底板上，两个所述限位板相对固定在底板两侧，所述限位板竖直设置，两个所述限位板相对的一侧均设置有卡槽，所述半导体制冷片安装在卡槽内，所述半导体制冷片的上表面为冷面，下表面为热面，所述半导体制冷片位于恒温器上面，所述半导体制冷片的热面与所述恒温器的上表面贴合；温差测试仪包括温度检测器、支架和两个导电片；所述支架固定在其中一个限位板顶面，所述温度检测器固定在支架上，所述温度检测器位于半导体制冷片的上方；所述温度检测器与半导体制冷片的冷面相贴合；所述工作台在限位板的一侧边固定有绝缘板，所述导电片固定在绝缘板上，两个所述导电片分别连接半导体制冷片的正负极，所述导电片给半导体制冷片通电，通过恒温器对半导体制冷片的热面进行恒温，保证半导体制冷片在测试过程中保证热面达到恒温状态，不会受到温度的影响，提高温差测试的准确率，通过导电片给半导体制冷片通电，不需要半导体制冷片焊接导线，简化测量工序，提高测量工作效率。

进一步的，所述恒温器包括温度传感器、壳体和设置在壳体内的散热器、微处理器和数字温控器，所述温度传感器设置在壳体上表面，所述温度传感器与半导体制冷片的热面贴合，所述散热器、温度传感器和数字温控器均与微处理器电性连接，通过微处理器控制，保证温度恒定，波动范围小，节能并提高控温精度，通过散热器保证半导体制冷片的热面保持恒温状态。

进一步的，所述温差测试仪还包括电源处理器、多个反馈导线和温度显示器；所述电源处理器固定在工作台一侧，所述温度显示器固定在电源处理器的侧边上；所述微处理器、温度测试器、温度显示器和导电片均通过反馈导线与电源处理器连接，反馈导线反馈半导体制冷片的温差变化情况，温度显示器显示温度，电源处理器通电和处理数据，保证每个数据及时反馈和记录，保证温差测试的准确率。

进一步的，所述导电片的一端设有接线器，所述导电片与反馈导线通过接线器连接，连接时保证导电片与反馈导线能连接稳定，不会断连，安装方便，使用时电源处理器通过反馈导线向导电片通电，保证电流的稳定。

进一步的，所述导电片上套设有绝缘套，保证测试过程的安全性，避免接触不良导致短路。