[实用新型]半导体制冷片温差测试装置

权利要求书

1.半导体制冷片温差测试装置，其特征在于，包括工作台、两个限位板、底板、温差测试仪、恒温器和半导体制冷片；所述底板固定在工作台上，所述恒温器固定在底板上，两个所述限位板相对固定在底板两侧，所述限位板竖直设置，两个所述限位板相对的一侧均设置有卡槽，所述半导体制冷片相对的两侧边嵌入两个限位板的卡槽内，所述半导体制冷片的上表面为冷面，下表面为热面，所述半导体制冷片位于恒温器上面，所述半导体制冷片的热面与所述恒温器的上表面贴合；所述温差测试仪包括温度检测器、支架和两个导电片；所述支架固定在限位板的顶面，所述温度检测器固定在支架上，所述温度检测器与半导体制冷片的冷面相贴合；所述工作台在限位板的一侧边固定有绝缘板，所述导电片固定在绝缘板上，两个所述导电片分别连接半导体制冷片的正负极。

2.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于，所述恒温器包括温度传感器、壳体和设置在壳体内的散热器、微处理器和数字温控器，所述温度传感器设置在壳体上表面，所述温度传感器与半导体制冷片的热面贴合，所述散热器、温度传感器和数字温控器均与微处理器电性连接。

3.根据权利要求2所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于，所述温差测试仪还包括电源处理器、多个反馈导线和温度显示器；所述电源处理器固定在工作台一侧，所述温度显示器固定在电源处理器的侧面上；所述微处理器、温度测试器、温度显示器和导电片均通过反馈导线与电源处理器连接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于，所述导电片的一端设有接线器，所述导电片与反馈导线通过接线器连接。

5.根据权利要求4所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于，所述导电片上套设有绝缘套。

6.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于，所述支架包括固定杆、旋转杆和万向旋转接头，所述固定杆竖直固定在限位板上面，所述万向旋转接头固定在固定杆的顶端，所述旋转杆的一端通过万向旋转接头与固定杆连接，温度检测器固定在旋转杆的另一端上。

7.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于，所述限位板内设置有弹性隔热垫，所述半导体制冷片侧边安装在弹性隔热垫上，所述弹性隔热垫为泡沫塑料片。

8.根据权利要求1所述的一种半导体制冷片温差测试装置，其特征在于，所述工作台上固定有风扇，所述风扇朝向恒温器设置。