[实用新型]一种晶圆轮廓测量仪有效

专利信息
申请号: 202121779477.6 申请日: 2021-08-02
公开(公告)号: CN215447789U 公开(公告)日: 2022-01-07
发明(设计)人: 陈海龙 申请(专利权)人: 芯茂(嘉兴)半导体科技有限公司
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B11/06;G01B11/22;G01B11/26;B25B11/00
代理公司: 浙江永航联科专利代理有限公司 33304 代理人: 林文豪
地址: 314100 浙江省嘉兴市嘉善县罗星*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 轮廓 测量仪
【权利要求书】:

1.一种晶圆轮廓测量仪,其特征在于,包括:

壳体(10),所述壳体(10)内部设有检测腔体(10a);

承载装置(20),所述承载装置(20)包括载板(20a),所述载板(20a)的一侧延伸至所述检测腔体(10a)内,所述载板(20a)在靠近检测腔体(10a)的一侧设有检测缺口(20b),晶圆(30)放置于所述载板(20a)表面且所述晶圆(30)延伸至所述检测缺口(20b)的外侧;

检测装置(40),设置于所述检测腔体(10a)内,所述检测装置(40)包括设置于所述检测缺口(20b)上方的第一相机(40a)和设置于所述检测缺口(20b)一侧的第二相机(40b)。

2.根据权利要求1所述的一种晶圆轮廓测量仪,其特征在于:所述检测腔体(10a)外部还设有保护罩(50),所述保护罩(50)与所述壳体(10)可拆卸连接。

3.根据权利要求1所述的一种晶圆轮廓测量仪,其特征在于:所述载板(20a)表面在靠近检测缺口(20b)的一侧还设有限位机构,所述限位机构包括至少一组限位组件(20c),所述限位组件(20c)包括两个对称设置于所述载板(20a)表面的限位孔(20c1)所述限位孔(20c1)内放置有导柱(20c2);

所述载板(20a)的表面开设有滑动槽(20d),所述滑动槽(20d)内转动设置有压紧轮(20e),所述压紧轮(20e)的外部包覆有橡胶套(20f),所述压紧轮(20e)可向检测缺口(20b)方向靠近或远离。

4.根据权利要求3所述的一种晶圆轮廓测量仪,其特征在于,所述导柱(20c2)包括:

固定轴(20c21),所述固定轴(20c21)放置于所述限位孔(20c1)内;

转动杆(20c22),所述转动杆(20c22)套设于所述固定轴(20c21)外部。

5.根据权利要求4所述的一种晶圆轮廓测量仪,其特征在于,所述载板(20a)下端还设有滑动机构(60),所述滑动机构(60)包括:

固定架(60a),设置于所述载板(20a)下方;

滑动块(60b),滑动设置于所述固定架(60a)的内部;

滑动组件(60c),包括连接块(60c1)以及固定于所述连接块(60c1)上端的滑动板(60c2),所述滑动板(60c2)可在所述固定架(60a)表面滑动,所述压紧轮(20e)通过连接轴(20g)固定于所述滑动板(60c2)的上方;

发条弹簧(60d),所述发条弹簧(60d)的一端与所述滑动块(60b)相连接,所述发条弹簧(60d)的另一端与安装轴(60e)相连接,所述安装轴(60e)位于所述载板(20a)下方靠近检测缺口(20b)的一侧。

6.根据权利要求1所述的一种晶圆轮廓测量仪,其特征在于:所述检测缺口(20b)的下方还设有第一光源(40c),所述第一相机(40a)与所述第一光源(40c)相对应,所述第一光源(40c)位于所述检测腔体(10a)内。

7.根据权利要求1所述的一种晶圆轮廓测量仪,其特征在于:所述检测缺口(20b)的另一侧还设有第二光源(40d),所述第二相机(40b)与所述第二光源(40d)相对应设置,所述第二光源(40d)位于所述检测腔体(10a)内。

8.根据权利要求6所述的一种晶圆轮廓测量仪,其特征在于:所述第一相机(40a)与XZ双轴滑台(40e)相连接,所述XZ双轴滑台(40e)位于所述检测腔体(10a)内。

9.根据权利要求7所述的一种晶圆轮廓测量仪,其特征在于:所述第二相机(40b)的下端连接有XY双轴滑台一(40f),所述XY双轴滑台一(40f)位于所述检测腔体(10a)内。

10.根据权利要求7所述的一种晶圆轮廓测量仪,其特征在于:所述第二光源(40d)的一侧连接有XY双轴滑台二(40g),所述XY双轴滑台二(40g)位于所述检测腔体(10a)内。

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