[实用新型]一种Nand flash自动测试设备

说明书

本实用新型公开了一种Nand flash自动测试设备，包括主体，所述主体的前端外表面设置有触摸控制装置，所述主体的上端外表面设置有检测柜，所述检测柜的两侧内表面设置有温控装置，所述温控装置的下端内表面设置有接触检测装置。本实用新型所述的一种Nand flash自动测试设备，通过设置的接触检测装置、固定盖、按压块、检测块、检测点、磁吸固定环和传输装置，有利于对Nand flash起到固定作用并对其接触点进行检测，通过设置的温控装置、排热器、半导体制冷片、导热硅脂层、导热板和电流转换控制器，有利于检测Nand flash在不通过温度的情况下的读写速度和耐热性，此设备不但结构简单，而且操作方便，带来更好的使用前景。

技术领域

本实用新型涉及储存装置测试领域，特别涉及一种Nand flash自动测试设备。

背景技术

Nand-flash内存是flash内存的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案，Nand-flash存储器具有容量较大，改写速度快等优点，适用于大量数据的存储，因而在业界得到了越来越广泛的应用，如嵌入式产品中包括数码相机、MP3随身听记忆卡、体积小巧的U盘等，在Nand-flash是在使用前要对其进行测试，但现有的Nand flash自动测试设备无法满足人们的需求。

目前，申请号CN202020585189.6的中国专利公开了了一种nand flash储存芯片测试治具，包括治具主体，使用时新型无法对Nand flash进行温差测试，同时固定方式在安装和拆卸时比较繁琐，为此，我们提出一种Nand flash自动测试设备。

发明内容

本实用新型的主要目的在于提供一种Nand flash自动测试设备，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种Nand flash自动测试设备，包括主体，所述主体的前端外表面设置有触摸控制装置，所述主体的上端外表面设置有检测柜，所述检测柜的两侧内表面设置有温控装置，所述温控装置的下端内表面设置有接触检测装置，所述接触检测装置包括固定盖、按压块、检测块、检测点、磁吸固定环和传输装置。

优选的，所述固定盖的下端外表面设置有按压块，所述按压块的下端外表面设置有检测块，所述检测块的下端内表面设置有检测点，所述检测块的四周外表面设置有磁吸固定环，所述检测块的下端外表面设置有传输装置。

优选的，所述固定盖与按压块之间设置有固定槽和复位弹簧，所述固定盖的上端内表面通过固定槽和复位弹簧与按压块的上端外表面可拆卸连接，所述检测块与检测点之间设置有检测板和安装槽，所述检测块的下端内表面通过检测板和安装槽与检测点的外壁固定连接，所述固定盖与检测块之间设置有磁吸环，所述固定盖的下端外表面通过磁吸环和磁吸固定环与检测块的上端外表面可拆卸连接，所述检测点和传输装置电性连接。

优选的，所述温控装置包括排热器、半导体制冷片、导热硅脂层、导热板和电流转换控制器，所述排热器的一侧外表面设置有半导体制冷片，所述半导体制冷片与导热板之间设置有导热硅脂层，所述半导体制冷片的上端外表面设置有电流转换控制器。

优选的，所述排热器与半导体制冷片之间设置有安装架和安装螺丝，所述排热器的一侧外表面通过安装架和安装螺丝与半导体制冷片的一侧外表面可拆卸连接，所述半导体制冷片与导热板之间设置有固定螺丝和固定孔，所述半导体制冷片的另一侧外表面通过导热硅脂层、固定螺丝和固定孔与导热板的一侧外表面可拆卸连接，所述排热器、半导体制冷片、电流转换控制器电性连接。

优选的，所述主体与检测柜之间设置有固定板和数据传输孔，所述主体的上端外表面通过固定板和数据传输孔与检测柜的下端外表面固定连接，所述检测柜的两侧外表面通过导热板与温控装置的一侧外表面可拆卸连接，所述检测柜与接触检测装置之间设置有固定卡槽，所述检测柜的下端内表面通过固定卡槽和接触检测装置下端外表面可拆卸连接。