[实用新型]一种Nand flash自动测试设备

权利要求书

1.一种Nand flash自动测试设备，包括主体（1），其特征在于：所述主体（1）的前端外表面设置有触摸控制装置（2），所述主体（1）的上端外表面设置有检测柜（3），所述检测柜（3）的两侧内表面设置有温控装置（5），所述温控装置（5）的下端内表面设置有接触检测装置（4），所述接触检测装置（4）包括固定盖（401）、按压块（402）、检测块（403）、检测点（404）、磁吸固定环（405）和传输装置（406）。

2.根据权利要求1所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述固定盖（401）的下端外表面设置有按压块（402），所述按压块（402）的下端外表面设置有检测块（403），所述检测块（403）的下端内表面设置有检测点（404），所述检测块（403）的四周外表面设置有磁吸固定环（405），所述检测块（403）的下端外表面设置有传输装置（406）。

3.根据权利要求1所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述固定盖（401）与按压块（402）之间设置有固定槽和复位弹簧，所述固定盖（401）的上端内表面通过固定槽和复位弹簧与按压块（402）的上端外表面可拆卸连接，所述检测块（403）与检测点（404）之间设置有检测板和安装槽，所述检测块（403）的下端内表面通过检测板和安装槽与检测点（404）的外壁固定连接，所述固定盖（401）与检测块（403）之间设置有磁吸环，所述固定盖（401）的下端外表面通过磁吸环和磁吸固定环（405）与检测块（403）的上端外表面可拆卸连接，所述检测点（404）和传输装置（406）电性连接。

4.根据权利要求1所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述温控装置（5）包括排热器（501）、半导体制冷片（502）、导热硅脂层（503）、导热板（504）和电流转换控制器（505），所述排热器（501）的一侧外表面设置有半导体制冷片（502），所述半导体制冷片（502）与导热板（504）之间设置有导热硅脂层（503），所述半导体制冷片（502）的上端外表面设置有电流转换控制器（505）。

5.根据权利要求4所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述排热器（501）与半导体制冷片（502）之间设置有安装架和安装螺丝，所述排热器（501）的一侧外表面通过安装架和安装螺丝与半导体制冷片（502）的一侧外表面可拆卸连接，所述半导体制冷片（502）与导热板（504）之间设置有固定螺丝和固定孔，所述半导体制冷片（502）的另一侧外表面通过导热硅脂层（503）、固定螺丝和固定孔与导热板（504）的一侧外表面可拆卸连接，所述排热器（501）、半导体制冷片（502）、电流转换控制器（505）电性连接，所述检测柜（3）的两侧外表面通过导热板（504）与温控装置（5）的一侧外表面可拆卸连接。

6.根据权利要求1所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述主体（1）与检测柜（3）之间设置有固定板和数据传输孔，所述主体（1）的上端外表面通过固定板和数据传输孔与检测柜（3）的下端外表面固定连接，所述检测柜（3）与接触检测装置（4）之间设置有固定卡槽，所述检测柜（3）的下端内表面通过固定卡槽和接触检测装置（4）下端外表面可拆卸连接。