[实用新型]一种芯片封装结构有效

专利信息
申请号: 202121350770.0 申请日: 2021-06-17
公开(公告)号: CN214705917U 公开(公告)日: 2021-11-12
发明(设计)人: 姜域;周进;殷昌荣 申请(专利权)人: 上海艾为电子技术股份有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/31
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 郭化雨
地址: 201199 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 封装 结构
【说明书】:

本申请实施例提供了一种芯片封装结构,结构包括:基板,所述基板包括相对的第一表面和第二表面,所述基板的第二表面设置有多个底部焊盘,所述基板内部具有互联线;所述基板的第一表面设置有芯片,所述芯片和所述底部焊盘通过所述互联线电连接;有机膜层,所述有机膜层覆盖所述底部焊盘。由此可见,本申请实施例的芯片封装结构,通过在所述底部焊盘表面覆盖有机膜层,能够保护底部焊盘在进行封装过程中不受损伤,避免由于底部焊盘产生损伤而导致的封装结构的损坏问题。

技术领域

本申请涉及半导体技术领域,更具体地说,涉及一种芯片封装结构。

背景技术

随着市场上消费类电子技术的不断升级,手机、智能穿戴设备和平板电脑等电子设备对芯片(Integrated Circuit Chip)封装的可靠性要求也越来越高。

现有的封装结构主要包括栅格阵列封装(Land Grid Array,LGA)和球栅阵列封装(Ball Grid Array Package,BGA),但在实际应用中,这两种封装结构均存在进行芯片封装过程时出现损坏的问题,导致芯片封装的良率下降,成本增加。

因此,现有技术存在封装结构在进行芯片封装过程中出现损坏,导致的成本增加的问题。

实用新型内容

有鉴于此,本申请的目的在于提供一种芯片封装结构,能够解决封装结构在进行芯片封装过程中出现损坏的问题。

为实现上述目的,本申请有如下技术方案:

一种芯片封装结构,所述结构包括:

基板,所述基板包括相对的第一表面和第二表面,所述基板的第二表面设置有多个底部焊盘,所述基板内部具有互联线;所述基板的第一表面设置有芯片,所述芯片和所述底部焊盘通过所述互联线电连接;

有机膜层,所述有机膜层覆盖所述底部焊盘。

可选的,所述有机膜层的材料为聚酰亚胺。

可选的,所述基板的第一表面覆盖有塑封体,以覆盖所述芯片。

可选的,所述有机膜层在利用所述底部焊盘进行焊接连接时被去除。

可选的,所述结构还包括:

与所述底部焊盘连接的凸点焊盘,用于引出所述底部焊盘;所述凸点焊盘被所述有机膜层覆盖。

可选的,所述有机膜层的厚度超过所述凸点焊盘的高度为20-80微米。

可选的,所述有机膜层覆盖所述基板的第二表面,且所述有机膜层背离所述基板第二表面的一侧为平整平面。

可选的,所述基板的第二表面还设置有阻焊油墨层,所述阻焊油墨层包括多个焊盘开口,用于暴露所述底部焊盘。

可选的,所述焊盘开口完全暴露出所述底部焊盘。

可选的,所述阻焊油墨层覆盖所述底部焊盘部分表面。

本申请实施例提供了一种芯片封装结构,结构包括:基板,所述基板包括相对的第一表面和第二表面,所述基板的第二表面设置有多个底部焊盘,所述基板内部具有互联线;所述基板的第一表面设置有芯片,所述芯片和所述底部焊盘通过所述互联线电连接;有机膜层,所述有机膜层覆盖所述底部焊盘。由此可见,本申请实施例的芯片封装结构,通过在所述底部焊盘表面覆盖有机膜层,能够保护底部焊盘在进行封装过程中不受损伤,避免由于底部焊盘产生损伤而导致的封装结构的损坏问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。

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