[实用新型]一种三极管双排框架结构有效
| 申请号: | 202121268037.4 | 申请日: | 2021-06-08 |
| 公开(公告)号: | CN215496728U | 公开(公告)日: | 2022-01-11 |
| 发明(设计)人: | 徐丽蓓;李小江 | 申请(专利权)人: | 深圳市诠方半导体有限公司 |
| 主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L23/02;H01L23/08;H01L23/544;H01L29/73 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市龙华区民*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 三极管 框架结构 | ||
1.一种三极管双排框架结构,包括掺杂半导体、隔离金属环、塑料封盖、塑料侧封盖(10)和引线电极,其特征在于:所述塑料侧封盖(10)的内壁且靠近上端固定连接有塑料上封盖(8),所述塑料侧封盖(10)的内壁且靠近下端固定连接有塑料下封盖(9);
所述塑料上封盖(8)和塑料下封盖(9)相对的面固定连接有同轴的第一隔离金属环(11),所述塑料上封盖(8)和塑料下封盖(9)相对的面且位于第一隔离金属环(11)的外围固定连接有第二隔离金属环(12),所述塑料上封盖(8)和塑料下封盖(9)相对的面且位于第二隔离金属环(12)的外围固定连接有第三隔离金属环(13);
所述第一隔离金属环(11)的内部均匀填充有高浓度P型掺杂半导体(14),所述第一隔离金属环(11)与第二隔离金属环(12)之间均匀填充有高浓度N型掺杂半导体(15),所述第二隔离金属环(12)与第三隔离金属环(13)之间均匀填充有低浓度P型掺杂半导体(16),所述第三隔离金属环(13)与塑料侧封盖(10)之间均匀填充有低浓度N型掺杂半导体(17);
所述塑料上封盖(8)固定连接有由下表面延伸至上表面下方的PNP型发射极(1)、PNP型基极(2)和PNP型集电极(3),所述塑料下封盖(9)固定连接有由上表面延伸至下表面下方的NPN型发射极(5)、NPN型基极(6)和NPN型集电极(7)。
2.根据权利要求1所述的一种三极管双排框架结构,其特征在于:所述PNP型发射极(1)位于高浓度P型掺杂半导体(14)的正上方,所述PNP型发射极(1)的下端与高浓度P型掺杂半导体(14)接触并电性连接。
3.根据权利要求1所述的一种三极管双排框架结构,其特征在于:所述PNP型基极(2)位于高浓度N型掺杂半导体(15)的正上方,所述PNP型基极(2)的下端与高浓度N型掺杂半导体(15)接触并电性连接。
4.根据权利要求1所述的一种三极管双排框架结构,其特征在于:所述PNP型集电极(3)位于低浓度P型掺杂半导体(16)的正上方,所述PNP型集电极(3)的下端与低浓度P型掺杂半导体(16)接触并电性连接。
5.根据权利要求1所述的一种三极管双排框架结构,其特征在于:所述NPN型发射极(5)位于高浓度N型掺杂半导体(15)的正下方,所述NPN型发射极(5)的下端与高浓度N型掺杂半导体(15)接触并电性连接。
6.根据权利要求1所述的一种三极管双排框架结构,其特征在于:所述NPN型基极(6)位于低浓度P型掺杂半导体(16)的正下方,所述NPN型基极(6)的下端与低浓度P型掺杂半导体(16)接触并电性连接。
7.根据权利要求1所述的一种三极管双排框架结构,其特征在于:所述NPN型集电极(7)位于低浓度N型掺杂半导体(17)的正下方,所述NPN型集电极(7)的下端与低浓度N型掺杂半导体(17)接触并电性连接。
8.根据权利要求1所述的一种三极管双排框架结构,其特征在于:所述塑料上封盖(8)的上表面和塑料下封盖(9)的下表面均设置有型号标识符(4)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市诠方半导体有限公司,未经深圳市诠方半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202121268037.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种便携式三脚支架
- 下一篇:一种油漆涂料生产用自动输料装置
- 同类专利
- 专利分类





