[实用新型]一种人工芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种人工芯片测试装置，包括：底座、压紧夹具，芯片；所述底座的中部设有与所述芯片匹配的检测腔，所述检测腔上设有若干通孔，所述通孔内分别安装有弹簧探针，所述弹簧探针的顶部穿出于所述通孔外；所述芯片放置于所述检测腔内，所述芯片的底面设有若干与所述弹簧探针对应的触点，所述触点与所述弹簧探针抵接；所述压紧夹具与所述检测腔对应，所述压紧夹具用于将所述芯片压于所述检测腔内。采用以上设计，通过在检测腔内设置弹簧探针，实现芯片与探针的接触完成测试，并在检测腔的一侧上设置压紧装置，通过压紧夹具提升芯片与弹簧探针接触的稳定性，结构简单，操作方便，易上手，无需特殊操作技能即可完成芯片测试。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别是涉及一种人工芯片测试装置。

背景技术

在芯片的生产过程中，对芯片的测试是一个重要步骤，通常需要芯片测试座对芯片进行测试，检查在线的单个芯片元器件以及各电路网络的开、短路情况，以及模拟器件功能和数字器件逻辑功能测试等，因此，芯片测试座的性能是比较重要的研究内容。

目前芯片检测通常采用自动化设备检测，自动化设备可以全时段工作，从而提升工作效率，然而自动化设备的购买成本高，且如果不是全套的自动化流水线，那单独自动化检测设备的性价比相对于人工来说就要差很多，因为芯片在检测时需要停留一段时间来检测，因此导致自动化设备检测的效率并不会比人工高很多，导致单独的自动化检测设备的性价比相对人工而言就要低很多。

因此，现在亟需设计一种能解决上述一个或者多个问题的用于人工检测的芯片测试装置。

实用新型内容

为解决现有技术中存在的一个或者多个问题，本实用新型提供了一种人工检测的芯片测试装置。

本实用新型为达到上述目的所采用的技术方案是：一种人工芯片测试装置，其特征在于，包括：底座、压紧夹具，芯片；所述底座的中部设有与所述芯片匹配的检测腔，所述检测腔上设有若干通孔，所述通孔内分别安装有弹簧探针，所述弹簧探针的顶部穿出于所述通孔外；所述芯片放置于所述检测腔内，所述芯片的底面设有若干与所述弹簧探针对应的触点，所述触点与所述弹簧探针抵接；所述压紧夹具与所述检测腔对应，所述压紧夹具用于将所述芯片压于所述检测腔内。

在一个优选的实施例中，所述压紧夹具包括：安装座、拨杆、压杆、连杆、压紧件；所述安装座固定于所述检测腔的一侧，所述拨杆与所述安装座的一侧顶部转动连接，所述压杆的一端与所述安装座远离所述拨杆的一侧顶部转动连接，所述压杆的另一端设有滑槽，所述压杆设有滑槽的一端穿过所述拨杆的中部；所述连杆的一端与所述拨杆转动连接，另一端与所述压杆转动连接，所述压紧件滑动设于所述滑槽内，所述压紧件与所述检测腔对应。

在一个优选的实施例中，所述压紧件的顶部设有一对相对设置的滑块，所述滑块与所述滑槽相匹配。

在一个优选的实施例中，弹簧探针的顶部呈梯形。

在一个优选的实施例中，所述压紧件远离所述滑块的一端设有软胶垫。

在一个优选的实施例中，所述连杆的一侧上设有呈“L”形的压块。

本实用新型的有益效果是：相较于现有技术，本实用新型通过在检测腔内设置弹簧探针，实现芯片与探针的接触完成测试，并在检测腔的一侧上设置压紧装置，通过压紧夹具提升芯片与弹簧探针接触的稳定性，结构简单，操作方便，易上手，无需特殊操作技能即可完成芯片测试。

附图说明

图1为本实用新型较佳实施例的结构示意图；

图2为本实用新型较佳实施例的底座的截面图；

图3为本实用新型较佳实施例的压紧夹具的爆炸图。

图中：

1、底座；11、检测腔；111、通孔；12、取放槽；13、弹簧探针；