[实用新型]一种人工芯片测试装置

权利要求书

1.一种人工芯片测试装置，其特征在于，包括：底座、压紧夹具，芯片；所述底座的中部设有与所述芯片匹配的检测腔，所述检测腔上设有若干通孔，所述通孔内分别安装有弹簧探针，所述弹簧探针的顶部穿出于所述通孔外；所述芯片放置于所述检测腔内，所述芯片的底面设有若干与所述弹簧探针对应的触点，所述触点与所述弹簧探针抵接；所述压紧夹具与所述检测腔对应，所述压紧夹具用于将所述芯片压于所述检测腔内。

2.根据权利要求1所述的人工芯片测试装置，其特征在于，所述压紧夹具包括：安装座、拨杆、压杆、连杆、压紧件；所述安装座固定于所述检测腔的一侧，所述拨杆与所述安装座的一侧顶部转动连接，所述压杆的一端与所述安装座远离所述拨杆的一侧顶部转动连接，所述压杆的另一端设有滑槽，所述压杆设有滑槽的一端穿过所述拨杆的中部；所述连杆的一端与所述拨杆转动连接，另一端与所述压杆转动连接，所述压紧件滑动设于所述滑槽内，所述压紧件与所述检测腔对应。

3.根据权利要求2所述的人工芯片测试装置，其特征在于，所述压紧件的顶部设有一对相对设置的滑块，所述滑块与所述滑槽相匹配。

4.根据权利要求1所述的人工芯片测试装置，其特征在于，弹簧探针的顶部呈梯形。

5.根据权利要求3所述的人工芯片测试装置，其特征在于，所述压紧件远离所述滑块的一端设有软胶垫。

6.根据权利要求2所述的人工芯片测试装置，其特征在于，所述连杆的一侧上设有呈“L”形的压块。