[实用新型]一种用于MOS双极芯片的耐高压测试装置

说明书

本实用新型公开了一种用于MOS双极芯片的耐高压测试装置，包括底座、垫块、支撑柱、支撑板、缓冲按压装置、承托台、高压检测机构、检测探头、支柱和放置板。本实用新型属于芯片耐压检测技术领域，具体是指一种能够对MOS双极芯片进行下压，从而使得MOS双极芯片与检测探头进一步的接触，从而提高测试效率和测试的准确度，同时在下压MOS双极芯片的同时可以很好的控制力度，避免力度过大对MOS双极芯片造成伤害的用于MOS双极芯片的耐高压测试装置。

技术领域

本实用新型属于芯片耐压检测技术领域，具体是指一种用于MOS双极芯片的耐高压测试装置。

背景技术

在MOS双极芯片的生产过程中，需要对MOS双极芯片进行一系列复杂且繁琐的检测，这些检测具有很高的精准度，在其中就有一项要对MOS双极芯片进行耐高压测试，传统的耐高压测试很容易在对MOS双极芯片进行检测时，因为MOS双极芯片与检测探头接触不良的问题，从而导致检测后的精确度大大降低，进一步的影响检测的数据，增加了生产的成本。因此本实用新型提供一种能够对MOS双极芯片进行下压，从而使得MOS双极芯片与检测探头进一步的接触，从而提高测试效率和测试的准确度，同时在下压MOS双极芯片的同时可以很好的控制力度，避免力度过大对MOS双极芯片造成伤害的用于MOS双极芯片的耐高压测试装置。

实用新型内容

为了解决上述难题，本实用新型提供了一种能够对MOS双极芯片进行下压，从而使得MOS双极芯片与检测探头进一步的接触，从而提高测试效率和测试的准确度，同时在下压MOS双极芯片的同时可以很好的控制力度，避免力度过大对MOS双极芯片造成伤害的用于MOS双极芯片的耐高压测试装置。

为了实现上述功能，本实用新型采取的技术方案如下：一种用于MOS双极芯片的耐高压测试装置，包括底座、垫块、支撑柱、支撑板、缓冲按压装置、承托台、高压检测机构、检测探头、支柱和放置板，所述垫块均匀设于底座下，所述支撑柱设于底座上，所述支撑柱以底座的竖直中心线为对称轴设置两组，所述支撑板设于支撑柱上，起到固定支撑的作用，使整体更加稳定，所述缓冲按压装置设于支撑板上，能够对MOS双极芯片进行下压，从而使得MOS双极芯片与检测探头进一步的接触，同时在下压MOS双极芯片的同时可以很好的控制力度，避免力度过大对MOS双极芯片造成伤害，所述承托台设于底座上，所述高压检测机构设于承托台上，所述检测探头均匀设于高压检测机构上，检测探头便于与芯片接触检测，所述支柱设于承托台上，所述支柱以高压检测机构的竖直中心线为对称轴设置两组，所述放置板设于支柱上，便于放置芯片进行检测；所述缓冲按压装置包括限位套环、连接柱、电机、齿轮、移动柱、齿条、按压板、限位柱、滑轨、滑块、按压块和压缩弹簧，所述限位套环贯穿支撑板中心位置处设置，所述连接柱设于支撑板下，所述电机设于连接柱底端，所述齿轮设于电机输出端，所述移动柱移动穿过限位套环设置，所述齿条设于移动柱侧壁上，所述齿条啮合于齿轮，所述按压板设于移动柱下，所述限位柱均匀设于按压板下，所述滑轨嵌设于限位柱侧壁上，所述滑块滑动卡接于滑轨，所述按压块设于滑块的连接处，所述压缩弹簧一端设于按压板下，所述压缩弹簧另一端设于按压块上，电机驱动齿轮转动，齿轮带动齿条移动，齿条带动移动柱在限位套环内移动，移动柱带动按压板移动按压，在按压块接触到放置板上的芯片时，按压块在向下按压芯片的同时会产生向上挤压压缩弹簧，进行卸力，按压块通过滑块在滑轨内滑动，进行竖直方向上的限位，避免按压块的倾斜，对MOS双极芯片进行下压，从而使得MOS双极芯片与检测探头进一步的接触，从而提高测试效率和测试的准确度，同时在下压MOS双极芯片的同时可以很好的控制力度，避免力度过大对MOS双极芯片造成伤害。

进一步地，所述放置板上均匀嵌设有凹槽，所述凹槽与检测探头一一对应设置，所述凹槽底壁贯穿设有探针孔，凹槽可以放置芯片，检测探头通过探针口与凹槽内放置的芯片接触检测。

进一步地，所述按压块与凹槽一一对应设置，便于下压芯片，使检测探头能够更好的接触芯片检测。

进一步地，所述按压块下设有垫层，所述垫层为橡胶材料制成，一方面对芯片有保护作用，另一方面起到绝缘的作用。