[实用新型]一种电机堵转检测电路和智能门锁

说明书

本申请提供了一种电机堵转检测电路和智能门锁，其中，电机堵转检测电路包括串联在电机驱动模块中的采样模块以及放大控制模块，所述采样模块包括阻值为毫欧级的采样电阻；所述采样模块用于获取所述电机驱动模块中的采样电压；所述放大控制模块用于将所述采样电压进行放大，并将放大后的采样电压与预设电压范围比较，确定所述电机是否发生堵转。本申请通过毫欧级的采样电阻获取采样电压，并将采样电压进行放大后与预设电压范围比较，确定电机是否发生堵转，从而使采样电阻可以采用极小阻值，极大地减少了采样电压对电机驱动电压的占用，降低了对电机驱动功率的衰减，采样精度高，适用范围广。

技术领域

本申请属于门锁技术领域，尤其涉及一种电机堵转检测电路和智能门锁。

背景技术

电机堵转是指由于电机负载过大、电机拖动的机械故障、轴承损坏扫堂等原因引起的电机无法启动或停止转动的现象。电机堵转时功率因数极低，电流(即堵转电流)最高可达额定电流的7倍，时间稍长就会烧坏电机。

目前，判断电机是否发生堵转的方式，一般是直接将阻值较大的采样电阻串接在电机的驱动回路中，获取采样电阻两端的电压值来确定电机是否发生堵转，但是这种方式会使电机的驱动功率产生较大衰减。

实用新型内容

本申请的目的在于提供一种电机堵转检测电路和智能门锁，旨在解决传统的电机堵转判断方式会使驱动功率产生较大衰减的问题。

为了实现上述目的，第一方面，本申请实施例提供了一种电机堵转检测电路，包括串联在电机驱动模块中的采样模块以及放大控制模块，所述采样模块包括阻值为毫欧级的采样电阻；

所述采样模块用于获取所述电机驱动模块中的采样电压；

所述放大控制模块用于将所述采样电压进行放大，并将放大后的采样电压与预设电压范围比较，确定所述电机是否发生堵转。

在第一方面的一种可能的实施方式中，所述放大控制模块包括运算放大器U2和MCU单元，所述运算放大器U2的正输入端连接采样电阻R1的一端，所述运算放大器U2的负输入端并联第二电阻R2的一端和第三电阻R3的一端，所述采样电阻R1的另一端和所述第二电阻R2的另一端均接地，所述运算放大器U2的输出端连接所述第三电阻R3的另一端和所述MCU单元的采样引脚。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述放大控制模块还包括第四电阻R4和第六电容C6，所述运算放大器U2的输出端连接所述第四电阻R4的一端，所述第四电阻R4的另一端和所述第六电容C6的一端均连接所述MCU单元的采样引脚，所述第六电容C6的另一端接地。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述放大控制模块还包括第五电容C5，所述运算放大器U2的正电源引脚连接电源电压VCC和所述第五电容C5的一端，所述第五电容C5的另一端接地。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述采样电阻的阻值范围为1-1000mΩ±1％。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述电机堵转检测电路还包括电机驱动模块，所述电机驱动模块包括驱动芯片U1，所述驱动芯片U1的INA引脚和INB引脚分别连接第一控制信号INA和第二控制信号INB，所述驱动芯片U1的VDD引脚连接器件电压VDD，所述驱动芯片U1的OUTA引脚和OUTB引脚分别连接电机MT1的两端，所述驱动芯片U1的PGND引脚输出驱动电流。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述电机驱动模块还包括连接所述驱动芯片U1的电源引脚的滤波电容，所述滤波电容用于对所述电源进行滤波。

在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述滤波电容包括第一电容C1、第二电容C2和第三电容C3，所述驱动芯片U1的VCC引脚连接第一电容C1的一端和电源电压VCC，所述驱动芯片U1的VDD引脚连接所述第二电容C2的一端和所述第三电容C3的一端，所述第一电容C1的另一端、第二电容C2的另一端和第三电容C3的另一端均接地。