[实用新型]一种集成电路测试机的自诊断电路

说明书

本实用新型涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路。包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若干ODD‑EVEN载具板、Utility Diag载具板，ODD‑EVEN载具板一端连接数字通道模块，ODD‑EVEN载具板另一端分别连接精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块，Utility Diag载具板连接多功能继电器模块。同现有技术相比，充分利用了集成电路测试机本身的资源，无需使用额外的测试设备，大大节省了设备成本。采用互联互测方案，对相同的测试项，可以并发性测试，整个自诊断测试可以在半小时以内完成诊断，节省了时间成本。

技术领域

本实用新型涉及测量电变量技术领域，具体地说是一种集成电路测试机的自诊断电路。

背景技术

集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，最多有1152 数字通道，72 个测量单元通道，72个供电通道、72个高压数字通道。由于测试资源较多，用外用设备手工量测已经为不现实，并且依赖于外部设备对集成电路测试机的测试资源进行检测，会增加测试成本。

目前集成电路测试机有几种自诊断方法，一是选取典型芯片，制作专用诊断电路测试板，基于该芯片完成测试。该方法的优点是能够模拟测试环境完成自诊断功能，缺点是为了完成芯片外围电路测试，制作完整的电路，制作成本高，同时受芯片功能限制，可能不能覆盖集成电路测试机的所有资源通道。二是采用外接测量仪器，通过专用电路板切换通道，并且将外接仪器的测量结果读回。该方法的优点是第三方仪器与测试机独立，能够准确定位诊断。缺点是，此类第三方测试仪器价格昂贵，而且不可能每个测试通道挂一个仪器，因此集成电路测试机的多通道只能串行测量，造成测量时间太长，动辄几个小时。

发明内容

本实用新型为克服现有技术的不足，设计一种集成电路测试机的自诊断电路及方法，利用ODD-EVEN载具板与Utility Diag载具板，充分利用集成电路测试机自身资源，将被测量资源和测量资源成对捆绑进行自诊断，不依赖外部设备进行测试，降低了测试成本。

为实现上述目的，设计一种集成电路测试机的自诊断电路，包括集成电路测试机，集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块，其特征在于：所述的集成电路测试机上设有若干ODD-EVEN载具板、Utility Diag载具板，ODD-EVEN载具板一端连接数字通道模块，ODD-EVEN载具板另一端分别连接精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块，Utility Diag载具板连接多功能继电器模块。

所述的ODD-EVEN载具板的数量为9个，Utility Diag载具板的数量为1个。

所述的ODD-EVEN载具板上设有四组相同的数字通道模块自诊断电路，数字通道模块的自诊断电路包括第一端口至第三十二端口，第一端口至第三十二端口的另一端依次两两连接。

所述的ODD-EVEN载具板上设有两组相同的精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块自诊断电路，精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块自诊断电路包括DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_S3端口、DPS_R0端口至DPS_R3端口、DPS_RS0端口至DPS_RS3端口、PMU_F0端口至PMU_F3端口、PMU_S0端口至PMU_S3端口、PMU_R0端口至PMU_R3端口、PMU_RS0端口至PMU_RS3端口，HV0端口至HV3端口，第一近地电阻至第四近地电阻，第一分压电阻至第四分压电阻，接地电阻；

第一近地电阻、第二近地电阻、第三近地电阻及第四近地电阻的一端合并接地；

第一近地电阻的另一端分别连接第一分压电阻的一端、DPS_F0端口、DPS_S0端口、PMU_F0端口及PMU_S0端口，第一分压电阻的另一端连接HV0端口；