[实用新型]一种集成电路测试机的自诊断电路有效
| 申请号: | 202121143268.2 | 申请日: | 2021-05-26 |
| 公开(公告)号: | CN214953929U | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
| 发明(设计)人: | 魏津;张经祥;吴艳平 | 申请(专利权)人: | 胜达克半导体科技(上海)有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 上海专益专利代理事务所(特殊普通合伙) 31381 | 代理人: | 方燕娜;王雯婷 |
| 地址: | 201799 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 集成电路 测试 诊断 电路 | ||
1.一种集成电路测试机的自诊断电路,包括集成电路测试机,集成电路测试机内设有数字通道模块、精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块、多功能继电器模块,其特征在于:所述的集成电路测试机(UT)上设有若干ODD-EVEN载具板(OE)、Utility Diag载具板(U),ODD-EVEN载具板(OE)一端连接数字通道模块(PE),ODD-EVEN载具板(OE)另一端分别连接精密测量单元模块(PMU)、供电模块(DPS)、高压数字通道模块(HV),Utility Diag载具板(U)连接多功能继电器模块(UR)。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试机的自诊断电路,其特征在于:所述的ODD-EVEN载具板(OE)的数量为9个,Utility Diag载具板(U)的数量为1个。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试机的自诊断电路,其特征在于:所述的ODD-EVEN载具板(OE)上设有四组相同的数字通道模块自诊断电路(OEC),数字通道模块自诊断电路(OEC)包括第一端口(P0)至第三十二端口(P31),第一端口(P0)至第三十二端口(P31)依次两两连接。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试机的自诊断电路,其特征在于:所述的ODD-EVEN载具板(OE)上设有两组相同的精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块自诊断电路(DCM),精密测量单元模块、供电模块、高压数字通道模块自诊断电路(DCM)包括DPS_F0端口至DPS_F3端口、DPS_S0端口至DPS_S3端口、DPS_R0端口至DPS_R3端口、DPS_RS0端口至DPS_RS3端口、PMU_F0端口至PMU_F3端口、PMU_S0端口至PMU_S3端口、PMU_R0端口至PMU_R3端口、PMU_RS0端口至PMU_RS3端口,HV0端口至HV3端口,第一近地电阻(RD1)至第四近地电阻(RD4),第一分压电阻(RF1)至第四分压电阻(RF4),接地电阻(R0);
第一近地电阻(RD1)、第二近地电阻(RD2)、第三近地电阻(RD3)及第四近地电阻(RD4)的一端合并接地;
第一近地电阻(RD1)的另一端分别连接第一分压电阻(RF1)的一端、DPS_F0端口、DPS_S0端口、PMU_F0端口及PMU_S0端口,第一分压电阻(RF1)的另一端连接HV0端口;
第二近地电阻(RD2)的另一端分别连接第二分压电阻(RF2)的一端、DPS_F1端口、DPS_S1端口、PMU_F1端口及PMU_S1端口,第二分压电阻(RF2)的另一端连接HV1端口;
第三近地电阻(RD3)的另一端分别连接第三分压电阻(RF3)的一端、DPS_F2端口、DPS_S2端口、PMU_F2端口及PMU_S2端口,第三分压电阻(RF3)的另一端连接HV2端口;
第四近地电阻(RD4)的另一端分别连接第四分压电阻(RF4)的一端、DPS_F3端口、DPS_S3端口、PMU_F3端口及PMU_S3端口,第四分压电阻(RF4)的另一端连接HV3端口;
DPS_R0端口、DPS_RS0端口、DPS_R1端口、DPS_RS1端口、DPS_R2端口、DPS_RS2端口、DPS_R3端口、DPS_RS3端口、PMU_R0端口、PMU_RS0端口、PMU_R1端口、PMU_RS1端口、PMU_R2端口、PMU_RS2端口、PMU_R3端口、PMU_RS3端口合并连接接地电阻(R0)的一端,接地电阻(R0)的另一端接地。
5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试机的自诊断电路,其特征在于:所述的Utility Diag载具板(U)上设有七组相同的多功能继电器模块自诊断电路(UD),多功能继电器模块(UR)的自诊断电路(UD)包括第一电阻(R1)至第四十电阻(R40)、第一发光二极管(D1)至第四十发光二极管(D40),第一电阻(R1)至第四十电阻(R40)的一端均连接5V电压,第一电阻(R1)至第四十电阻(R40)的另一端分别连接第一发光二极管(D1)至第四十发光二极管(D40)的一端,第一发光二极管(D1)至第四十发光二极管(D40)的另一端分别连接集成电路测试机(UT)的多功能继电器模块(UR)。
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