[实用新型]一种存储芯片晶元放大检测仪器

说明书

本实用新型提供一种存储芯片晶元放大检测仪器，属于存储芯片技术领域，该存储芯片晶元放大检测仪器包括底座，底座的上端开设有矩形槽，矩形槽的上侧设置有检测板，底座的侧端固定连接有安装块；移动观测台，移动观测台设置于安装块的一侧，移动观测台的上端和下端分别固定连接有目镜和放大镜；上升机构，上升机构设置于矩形槽内并与检测板连接以实现检测板的升降；以及移动机构，移动机构与移动观测台连接以实现移动观测台的上下移动，本装置通过上升机构可以移动检测板的位置，方便使用者对存储芯片进行打光，同时使用者可以根据移动观测台的移动调整观察高度，使得观察存储芯片更加方便仔细。

技术领域

本实用新型属于存储芯片技术领域，具体涉及一种存储芯片晶元放大检测仪器。

背景技术

存储芯片，是嵌入式系统芯片的概念在存储行业的具体应用。因此，无论是系统芯片还是存储芯片，都是通过在单一芯片中嵌入软件，实现多功能和高性能，以及对多种协议、多种硬件和不同应用的支持。

在储存芯片的生产过程中需要检测人员手持放大镜对储存芯片进行检查，检测的效率较低，影响了生产效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种存储芯片晶元放大检测仪器，旨在解决现有技术中的在储存芯片的生产过程中需要检测人员手持放大镜对储存芯片进行检查，检测的效率较低，影响了生产效率的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种存储芯片晶元放大检测仪器，包括：

底座，所述底座的上端开设有矩形槽，所述矩形槽的上侧设置有检测板，所述底座的侧端固定连接有安装块；

移动观测台，所述移动观测台设置于安装块的一侧，所述移动观测台的上端和下端分别固定连接有目镜和放大镜；

上升机构，所述上升机构设置于矩形槽内并与检测板连接以实现检测板的升降；以及

移动机构，所述移动机构与移动观测台连接以实现移动观测台的上下移动。

作为本实用新型一种优选的方案，所述上升机构包括滑槽、弹簧、两个螺杆、两个滑块、移动台和两个支杆，所述滑槽开设于矩形槽的下内壁，两个所述滑块均滑动连接于滑槽内，两个所述支杆分别活动铰接于两个滑块的上端，所述移动台活动铰接于两个支杆的上端，所述弹簧固定连接于两个滑块之间，两个所述螺杆分别设置于底座的前后两端，且两个螺杆的相靠近端分别转动贯穿滑槽的前后内壁并与两个滑块的相远离端接触；所述检测板通过四个连接杆固定连接于移动台的上端。

作为本实用新型一种优选的方案，所述移动机构包括丝杆、丝杆槽和电机，所述丝杆槽开设于安装块的侧端，所述电机固定连接于丝杆槽的下内壁，所述丝杆固定连接于电机的输出端；所述移动观测台通过丝杆螺母螺纹连接于丝杆的圆周表面。

作为本实用新型一种优选的方案，所述底座的前后内壁之间固定连接有限位杆，两个所述滑块均滑动连接于限位杆的圆周表面。

作为本实用新型一种优选的方案，所述底座的上端固定连接有两个伸缩杆，两个所述伸缩杆的上端均活动铰接有补光器。

作为本实用新型一种优选的方案，所述移动观测台的前后两端均固定连接有电源控制器，两个所述电源控制器均与电机之间信号连接。

作为本实用新型一种优选的方案，两个所述螺杆的相远离端均固定连接有防滑套。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本方案中将存储芯片晶元放置到检测板的上端，转动两个螺杆，两个螺杆推动两个滑块移动，弹簧处于压缩状态，随着两个滑块的移动，两个支杆推动移动台向上移动，移动台带动检测板向上移动，调整补光器的角度，本装置通过上升机构可以移动检测板的位置，方便使用者对存储芯片进行打光。