[实用新型]一种存储芯片晶元放大检测仪器

权利要求书

1.一种存储芯片晶元放大检测仪器，其特征在于，包括：

底座（1），所述底座（1）的上端开设有矩形槽（2），所述矩形槽（2）的上侧设置有检测板（3），所述底座（1）的侧端固定连接有安装块（5）；

移动观测台（17），所述移动观测台（17）设置于安装块（5）的一侧，所述移动观测台（17）的上端和下端分别固定连接有目镜（10）和放大镜（8）；

上升机构，所述上升机构设置于矩形槽（2）内并与检测板（3）连接以实现检测板（3）的升降；以及

移动机构，所述移动机构与移动观测台（17）连接以实现移动观测台（17）的上下移动。

2.根据权利要求1所述的一种存储芯片晶元放大检测仪器，其特征在于：所述上升机构包括滑槽（11）、弹簧（16）、两个螺杆（15）、两个滑块（12）、移动台（13）和两个支杆（14），所述滑槽（11）开设于矩形槽（2）的下内壁，两个所述滑块（12）均滑动连接于滑槽（11）内，两个所述支杆（14）分别活动铰接于两个滑块（12）的上端，所述移动台（13）活动铰接于两个支杆（14）的上端，所述弹簧（16）固定连接于两个滑块（12）之间，两个所述螺杆（15）分别设置于底座（1）的前后两端，且两个螺杆（15）的相靠近端分别转动贯穿滑槽（11）的前后内壁并与两个滑块（12）的相远离端接触；所述检测板（3）通过四个连接杆固定连接于移动台（13）的上端。

3.根据权利要求2所述的一种存储芯片晶元放大检测仪器，其特征在于：所述移动机构包括丝杆（6）、丝杆槽（7）和电机，所述丝杆槽（7）开设于安装块（5）的侧端，所述电机固定连接于丝杆槽（7）的下内壁，所述丝杆（6）固定连接于电机的输出端；所述移动观测台（17）通过丝杆螺母螺纹连接于丝杆（6）的圆周表面。

4.根据权利要求3所述的一种存储芯片晶元放大检测仪器，其特征在于：所述底座（1）的前后内壁之间固定连接有限位杆，两个所述滑块（12）均滑动连接于限位杆的圆周表面。

5.根据权利要求4所述的一种存储芯片晶元放大检测仪器，其特征在于：所述底座（1）的上端固定连接有两个伸缩杆，两个所述伸缩杆的上端均活动铰接有补光器（4）。

6.根据权利要求5所述的一种存储芯片晶元放大检测仪器，其特征在于：所述移动观测台（17）的前后两端均固定连接有电源控制器（9），两个所述电源控制器（9）均与电机之间信号连接。

7.根据权利要求6所述的一种存储芯片晶元放大检测仪器，其特征在于：两个所述螺杆（15）的相远离端均固定连接有防滑套。