[实用新型]点检装置及硅片检测分选设备有效

专利信息
申请号: 202121007717.0 申请日: 2021-05-12
公开(公告)号: CN216150401U 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 温延培;曹葵康;孙靖;顾烨;孙俊;苏傲;钱春辉;程璧;胡辉来;张体瑞 申请(专利权)人: 苏州天准科技股份有限公司
主分类号: B07C5/00 分类号: B07C5/00;B07C5/04;B07C5/34;B07C5/344;B07C5/02;B07C5/38
代理公司: 苏州国诚专利代理有限公司 32293 代理人: 马振华
地址: 215163 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 点检 装置 硅片 检测 分选 设备
【说明书】:

实用新型提供一种点检装置及硅片检测分选设备,其中,点检装置包括:供料点检机构、收料点检机构以及若干检测机构;供料点检机构设置于若干检测机构的上游,收料点检机构设置于若干检测机构的下游。本实用新型的点检装置中,点检机构可设置于检测流线的上游端和下游端。如此,在硅片的检测、分选之前,可通过点检机构提供标准硅片,使标准硅片在上游位置流入各检测机构中,之后由下游的点检机构回收。从而,通过标准硅片的预先试运行,可提前排查可能出现的问题,克服现有技术中存在的反复停机调试的问题。

技术领域

本实用新型涉及硅片检测分选技术领域,尤其涉及一种点检装置及硅片检测分选设备。

背景技术

硅片作为重要的工业原材料,被广泛用于太阳能电池、电路板等产品的生产制造中。因此,在硅片生产出厂之前需要对其质量进行严格的把控,以保证由硅片制造的太阳能电池、电路板等产品的质量。

为了保证硅片的出厂质量,需要对硅片进行质量检测、分选等。然而,实际硅片检测、分选过程中,经常面临需要停机对各检测、分选工位进行调试的问题,以便于查找、校正存在的问题,进而影响了硅片的检测、分选效率。因此,针对上述问题,有必要提出进一步地解决方案。

实用新型内容

本实用新型旨在提供一种点检装置及硅片检测分选设备,以克服现有技术中存在的不足。

为解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:

一种点检装置,其包括:供料点检机构、收料点检机构以及若干检测机构;

所述供料点检机构设置于所述若干检测机构的上游,所述收料点检机构设置于所述若干检测机构的下游,所述供料点检机构包括:第一升降模组以及由所述第一升降模组驱动进行升降的第一料盒,所述第一料盒具有适于多个标准硅片自上而下排列放置的第一料腔;所述收料点检机构包括:第二升降模组以及由所述第二升降模组驱动进行升降的第二料盒,所述第二料盒具有适于多个标准硅片自上而下排列放置的第二料腔。

作为本实用新型点检装置的改进,所述第一升降模组为竖直设置的伺服电机,其滑块通过一料盒支架与所述第一料盒相连接。

作为本实用新型点检装置的改进,所述第一料盒包括:两相对设置的第一固定板,任一所述第一固定板的内侧还设置有第一插板,所述第一插板上开设有自上而下排列设置的插槽,两个第一插板上的插槽相对设置。

作为本实用新型点检装置的改进,所述若干检测机构沿一输送带间隔设置,所述第一插板分置于所述输送带的两侧。

作为本实用新型点检装置的改进,所述第二升降模组为竖直设置的伺服电机,其滑块通过一料盒支架与所述第二料盒相连接。

作为本实用新型点检装置的改进,所述第二料盒包括:两相对设置的第二固定板,任一所述第二固定板的内侧还设置有第二插板,所述第二插板上开设有自上而下排列设置的插槽,两个第二插板上的插槽相对设置。

作为本实用新型点检装置的改进,所述若干检测机构包括:左右崩边机构、厚度检测机构、电阻率测试机构、前后崩机构、尺寸检测机构、脏污检测机构、倒角崩边机构以及隐裂检测机构中的一种或者几种的组合。

为解决上述技术问题,本实用新型的技术方案是:

一种硅片检测分选设备,其包括如上所述的点检装置。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型的点检装置中,点检机构可设置于检测流线的上游端和下游端。如此,在硅片的检测、分选之前,可通过点检机构提供标准硅片,使标准硅片在上游位置流入各检测机构中,之后由下游的点检机构回收。从而,通过标准硅片的预先试运行,可提前排查可能出现的问题,克服现有技术中存在的反复停机调试的问题。

附图说明

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