[实用新型]一种高压硅堆有效

专利信息
申请号: 202120781835.0 申请日: 2021-04-16
公开(公告)号: CN214848616U 公开(公告)日: 2021-11-23
发明(设计)人: 邓华鲜 申请(专利权)人: 乐山希尔电子股份有限公司;成都希尔芯科技有限公司
主分类号: H01L25/07 分类号: H01L25/07;H01L29/861
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 毛光军
地址: 614000 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 高压
【说明书】:

本实用新型属于二极管技术领域,尤其涉及一种高压硅堆,包括引脚Ⅰ、引脚Ⅱ、引脚Ⅲ、硅堆本体和封装外壳;硅堆本体包括硅堆单元Ⅰ和硅堆单元Ⅱ,硅堆单元Ⅰ的负极与硅堆单元Ⅱ的正极连接;硅堆单元Ⅱ和硅堆单元Ⅱ硅堆单元Ⅰ和硅堆单元Ⅱ中分别包含有若干个芯片堆;引脚Ⅰ与硅堆单元Ⅰ的正极连接,引脚Ⅱ与硅堆单元Ⅱ的负极连接,引脚Ⅲ与硅堆单元Ⅰ的负极或硅堆单元Ⅱ的正极连接。本技术方案集成度高,单个产品即可代替两个现有高压硅堆产品的使用,具有使用方便和安装效率高等特点,同时使散热区域得以分散,提高了产品的散热能力。

技术领域

本实用新型属于二极管技术领域,尤其涉及一种高压硅堆。

背景技术

高压硅堆又叫硅柱,它是一种硅高频高压整流二极管,具有体积小、重量轻、机械强度高、使用简便和无辐射等优点,其工作电压在几千伏至几万伏之间,普遍用于直流高压设备中作为基本的整流元件。

现有高压硅堆普遍采用二极管叠加串联封装工艺,主要封装方式如图1所示,包括两根同轴间隔设置的引脚,两个引脚之间多颗二极管芯片通过锡膏叠加焊接,表面采用环氧树脂进行封装,实际应用中,为满足使用需求,如在微波炉的使用中,需要将两颗高压硅堆串联使用,如图2所示,以达到反向电压叠加升高的目的,如此一来,出现了成本高、安装效率低、安装占空间、电路结构复杂等问题。另外,在一些用电设备的内部电路中,主流一般采用350mA工作电流,才能使高压硅堆工作温度基本在用电设备的安全范围内,根据市场需求,客户若想要提高工作电流,高压硅堆散热问题无法得到解决。

发明内容

本实用新型的目的在于根据现有技术的不足,提供一种高压硅堆,具有低成本和高集成化的特点,单个产品即可代替现两个现有高压硅堆产品的使用,使用简单方便,为简化电路打下了良好的基础,同时分散了散热区域以提升产品的散热能力。

具体通过以下技术方案实现(需要说明的是,本技术方案所说的芯片皆是指二极管芯片):

一种高压硅堆,包括引脚Ⅰ、引脚Ⅱ、引脚Ⅲ、硅堆本体和压塑(塑料或橡胶胶料在闭合模腔内借助加热、加压而成型为制品的塑料加工方法)于硅堆本体外部的封装外壳,优选的,所述封装外壳由环氧树脂制成;所述硅堆本体包括两个在同一平面平行设置的硅堆单元,分别为硅堆单元Ⅰ和硅堆单元Ⅱ。在高压硅堆中,二极管芯片集中区域温度高会导致二极管漏电流更大,漏电流的增加再次导致温度提升,如此热叠加循环,使产品热平衡时相对温度更高,基于此,可将芯片本体区域分散,以降低产品的热平衡温度,具体的,两个硅堆单元的结构相同,每个硅堆单元中都包含有若干个在同一平面并排设置、且依次同向串联的芯片堆(每个芯片堆都带有正极和负极,此处的同向串联的意思是,在相邻两个相连的芯片堆中,其中一个芯片堆的正极与另一个芯片堆的负极连接),目的在于将散热区域分散;硅堆单元Ⅰ中处于负极端的芯片堆的负极与硅堆单元Ⅱ处于正极端的芯片堆的正极连接,即,使两个硅堆单元同向串联;所述引脚Ⅰ的一端穿过封装外壳,并与硅堆单元Ⅰ中处于正极端的芯片堆的正极连接;所述引脚Ⅱ的一端穿过封装外壳,并与硅堆单元Ⅱ中处于负极端的芯片堆的负极连接;所述引脚Ⅲ的一端穿过封装外壳后,与硅堆单元Ⅰ中处于负极端的芯片堆的负极连接,或与硅堆单元Ⅱ中处于正极端的芯片堆的正极连接。

进一步的,所述芯片堆包括负极底板和芯片单元;芯片单元的负极固定于负极底板的顶部,包含有若干个从下至上依次叠加串联的芯片本体。

进一步的,所述芯片单元中,相邻两颗芯片本体之间通过锡膏焊接。

进一步的,所述硅堆单元中包含有三个芯片堆,且两端芯片堆的芯片单元中包含有三颗芯片本体,中间芯片堆的芯片单元中包含有一颗芯片本体。

进一步的,两个所述芯片堆之间通过扁形铜条连接,且扁形铜条的一端焊接于一个芯片堆的负极底板上,扁形铜条的另一端通过锡膏焊接于芯片单元的正极端。

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