[实用新型]一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩

说明书

本实用新型公开了一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，涉及相控阵天线高低温试验用设备技术领域，主要用于解决相控阵天线在进行高低温试验时会受到温度试验箱影响，导致测试数据出现误差的问题。其主要结构为：包括测试罩主体，测试罩主体的一端设有锥形盖，另一端设有天线安装法兰环，测试罩主体和锥形盖内壁上皆设有吸波内衬，锥形盖轴心处设有直波导和测试接头。本实用新型提供的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，用该测试罩遮盖相控阵列天线，能使相控阵天线不再受温度试验箱带来的其它因素的影响，保证了温度试验测试数据的准确性。

技术领域

本实用新型涉及相控阵天线高低温试验用设备技术领域，尤其涉及一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩。

背景技术

相控阵天线根据其应用场景的不同，会出现应用在极端温度下的情况，而高低温工作试验是目前检验相控阵天线温度环境适应性的常用及有效的方法。

由于相控阵天线性能的特殊性——相控阵天线是用来接收和发射辐射电磁波的，且辐射电磁波存在无穷个波束。所以相控阵天线性能测试必须采用开环式测试方法。这就导致相控阵列天线容易受到测试环境的影响，对测试环境要求极为严苛，常温状态下都需要到专业的微波暗室进行测试。

然而，由于相控阵天线进行高低温工作试验测试时必须在温度试验箱内进行高温、低温度保持。因此，相控阵天线在测试时往往因为受到温度试验箱带来的影响——如温度试验箱金属内壁反射电磁波等，使测试数据出现误差，给试验结果带来影响，进而导致不能真实的反映出相控阵天线在极端温度特性下的性能的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，用该测试罩遮盖相控阵列天线，能使相控阵天线不再受温度试验箱带来的其它因素的影响，保证了温度试验测试数据的准确性。

本实用新型解决上述技术问题的技术方案是：一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，包括圆筒形的测试罩主体，所述测试罩主体的一端设有与其同轴连接的锥形盖，所述测试罩主体的另一端设有固定套接在其外壁上的天线安装法兰环，所述测试罩主体和锥形盖的内壁上皆设有吸波内衬，所述锥形盖轴心处的内壁上设有沿测试罩主体轴线方向设置的直波导，所述锥形盖轴心处的外壁上设有用于连接直波导与测试仪器电缆的测试接头。

作为本实用新型的更进一步改进，所述测试罩主体两侧外壁上皆设有把手，两个所述把手相对设置。

作为本实用新型的更进一步改进，每个所述把手的两端皆设有用于将其固定安装在测试罩主体外壁上的把手固定孔。

作为本实用新型的更进一步改进，所述天线安装法兰环上设有多个围绕其轴心设置且延伸贯穿测试罩主体的天线固定孔。

作为本实用新型的更进一步改进，所述吸波内衬内表面上设有多个均匀排布的尖劈形的吸波凸块。

作为本实用新型的更进一步改进，所述吸波内衬与吸波凸块为一体式结构。

作为本实用新型的更进一步改进，所述锥形盖轴心处设有用于安装直波导和测试接头的波导安装部。

作为本实用新型的更进一步改进，所述测试接头一端设有波导连接部，另一端侧壁上设有电缆连接部。

作为本实用新型的更进一步改进，所述直波导靠近测试罩主体一端为喇叭形。

作为本实用新型的更进一步改进，所述测试罩主体为铝制的圆筒形壳体，所述锥形盖为铝制的锥形壳体。

有益效果

与现有技术相比，本实用新型的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩的优点为：