[实用新型]一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩有效
| 申请号： | 202120703014.5 | 申请日： | 2021-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN214545335U | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 李冬;李超;邱忠云;余浪;吕清刚;易亮 | 申请（专利权）人： | 成都华芯天微科技有限公司 |
| 主分类号： | H05K9/00 | 分类号： | H05K9/00;H01Q1/12 |
| 代理公司： | 成都华风专利事务所(普通合伙) 51223 | 代理人： | 李晓 |
| 地址： | 610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易试*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 相控阵 天线 低温 试验 微波 屏蔽 测试 | ||
1.一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，包括圆筒形的测试罩主体（2），所述测试罩主体（2）的一端设有与其同轴连接的锥形盖（3），所述测试罩主体（2）的另一端设有固定套接在其外壁上的天线安装法兰环（1），所述测试罩主体（2）和锥形盖（3）的内壁上皆设有吸波内衬（6），所述锥形盖（3）轴心处的内壁上设有沿测试罩主体（2）轴线方向设置的直波导（4），所述锥形盖（3）轴心处的外壁上设有用于连接直波导（4）与测试仪器电缆的测试接头（5）。
2.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，所述测试罩主体（2）两侧外壁上皆设有把手（8），两个所述把手（8）相对设置。
3.根据权利要求2所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，每个所述把手（8）的两端皆设有用于将其固定安装在测试罩主体（2）外壁上的把手固定孔（81）。
4.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，所述天线安装法兰环（1）上设有多个围绕其轴心设置且延伸贯穿测试罩主体（2）的天线固定孔（7）。
5.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，所述吸波内衬（6）内表面上设有多个均匀排布的尖劈形的吸波凸块（61）。
6.根据权利要求5所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，所述吸波内衬（6）与吸波凸块（61）为一体式结构。
7.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，所述锥形盖（3）轴心处设有用于安装直波导（4）和测试接头（5）的波导安装部（31）。
8.根据权利要求1或7所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，所述测试接头（5）一端设有波导连接部（51），另一端侧壁上设有电缆连接部（52）。
9.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，所述直波导（4）靠近测试罩主体（2）一端为喇叭形。
10.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线高低温试验的微波屏蔽测试罩，其特征在于，所述测试罩主体（2）为铝制的圆筒形壳体，所述锥形盖（3）为铝制的锥形壳体。
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