[实用新型]同轴结构测试座

说明书

本实用新型涉及测试设备，特别涉及一种同轴结构测试座。本实用新型公开了一种同轴结构测试座，包括第一针板、第二针板以及探针导体，第一针板设置有第一孔，第一孔设有第一绝缘件，第一针板由金属材料制成；第二针板与第一针板贴合，第二针板设置有与第一孔对应的第二孔，第二孔设有第二绝缘件，第二针板设置由金属材料制成，探针导体与芯片连接，探针导体用于导出芯片的电信号，探针导体包括信号探针以及接地探针，信号探针穿过第一绝缘件与第二绝缘件，接地探针电连接第一针板和第二针板。本实用新型能够防止外部的电磁信号对探针导体传导的信号干扰，及相邻探针导体之间的电磁信号串扰。

技术领域

本实用新型涉及测试设备，特别涉及一种同轴结构测试座。

背景技术

同轴结构测试座是通过探针导体将电信号传导到印制电路板进行的。

现有技术中，由于外部的电磁信号对探针导体传导的信号干扰，及相邻探针导体之间的电磁信号串扰。

所以在测试时，外部电磁信号导致探针信号损耗，造成测试数据丢失或失真，而引起测试的结果不良，使得芯片测试不通过，而造成合格品被误判为不良品。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种同轴结构测试座，能够防止外部的电磁信号对探针导体传导的信号干扰，及相邻探针导体之间的电磁信号串扰。

根据本实用新型的第一方面实施例的一种同轴结构测试座，包括第一针板、第二针板以及探针导体，所述第一针板设置有第一孔，所述第一孔设有第一绝缘件，所述第一针板由金属材料制成；所述第二针板与所述第一针板贴合，所述第二针板设置有与所述第一孔对应的第二孔，第二孔设有第二绝缘件，所述第二针板设置由金属材料制成，所述探针导体与芯片连接，所述探针导体用于导出所述芯片的电信号，所述探针导体包括信号探针以及接地探针，所述信号探针穿过所述第一绝缘件与所述第二绝缘件，所述接地探针电连接所述第一针板和所述第二针板。

第一针板上的第一孔与第二针板上的第二孔均设置有多个，对应的第一绝缘体与第二绝缘体也设置有多个，多个信号探针分别穿过所述第一绝缘件与所述第二绝缘件。

根据本实用新型实施例的一种同轴结构测试座，至少具有如下有益效果：第一针板与第二针板均由金属材料制成，材质硬度高，使用寿命长；金属第一针板与第二针板包覆探针导体，在探针导体外形成屏蔽罩，使外部电磁信号不能影响信号的传输；第一针板与第二针板能对第一探针进行一对一独立屏蔽，屏蔽相邻件探针导体的干扰；第一针板与第二针板通过没有绝缘件的管壁直接与接地探针导体导通，将第一针板与第二针板上屏蔽的电磁能通过接地探针导体导出于测座，不会因为时间的积累形成高电平而影响探针导体的信号传输；第一针板与第二针板作为相互独立的个体，通过多层结构提高信号屏蔽效果。

根据本实用新型的一些实施例，所述第一绝缘件与所述第二绝缘件均为塑胶体。

根据本实用新型的一些实施例，所述第一针板与所述第二针板，其一设置有定位柱，另一设置有与所述定位柱配合的定位槽。

根据本实用新型的一些实施例，所述第一针板与所述第二针板的外表面均覆盖有绝缘层。

根据本实用新型的一些实施例，所述信号探针以及所述接地探针相互平行设置。

根据本实用新型的一些实施例，所述第一针板与所述第二针板螺纹连接。

根据本实用新型的一些实施例，还包括下压机构，所述下压机构包括压板以及用于驱动所述压板靠近或者远离所述第一针板的动力件。

根据本实用新型的一些实施例，还包括机壳，所述机壳包括固定座以及用于打开或者封闭所述固定座的盖板，所述固定座上设置有限位支架，所述限位支架用于放置芯片，所述第一针板与所述第二针板安装在所述固定座上，所述下压机构安装在盖板上。