[实用新型]同轴结构测试座有效

专利信息
申请号: 202120685465.0 申请日: 2021-04-02
公开(公告)号: CN215066867U 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 黄光敏;谢伟;吴丽 申请(专利权)人: 昆仑伟思微电子(珠海)有限公司
主分类号: G01R1/18 分类号: G01R1/18;G01D11/00
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 郑晨鸣
地址: 519000 广东省珠海市金湾区红旗镇*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 同轴 结构 测试
【权利要求书】:

1.一种同轴结构测试座,其特征在于,包括:

第一针板,设置有第一孔,所述第一孔设有第一绝缘件,所述第一针板由金属材料制成;

第二针板,与所述第一针板贴合,所述第二针板设置有与所述第一孔对应的第二孔,第二孔设有第二绝缘件,所述第二针板设置由金属材料制成;

探针导体,与芯片连接,所述探针导体用于导出所述芯片的电信号,所述探针导体包括信号探针以及接地探针,所述信号探针穿过所述第一绝缘件与所述第二绝缘件,所述接地探针电连接所述第一针板和所述第二针板。

2.根据权利要求1所述的同轴结构测试座,其特征在于,所述第一绝缘件与所述第二绝缘件均为塑胶体。

3.根据权利要求1所述的同轴结构测试座,其特征在于,所述第一针板与所述第二针板,其一设置有定位柱,另一设置有与所述定位柱配合的定位槽。

4.根据权利要求1所述的同轴结构测试座,其特征在于,所述第一针板与所述第二针板的外表面均覆盖有绝缘层。

5.根据权利要求1所述的同轴结构测试座,其特征在于,所述信号探针以及所述接地探针相互平行设置。

6.根据权利要求1所述的同轴结构测试座,其特征在于,所述第一针板与所述第二针板螺纹连接。

7.根据权利要求6所述的同轴结构测试座,其特征在于,还包括下压机构,所述下压机构包括压板以及用于驱动所述压板靠近或者远离所述第一针板的动力件。

8.根据权利要求7所述的同轴结构测试座,其特征在于,还包括机壳,所述机壳包括固定座以及用于打开或者封闭所述固定座的盖板,所述固定座上设置有限位支架,所述限位支架用于放置芯片,所述第一针板与所述第二针板安装在所述固定座上,所述下压机构安装在盖板上。

9.根据权利要求8所述的同轴结构测试座,其特征在于,所述固定座与所述盖板绕所述固定座的一端转动连接。

10.根据权利要求9所述的同轴结构测试座,其特征在于,所述盖板与所述机壳,其一设置有卡扣,另一设置有与所述卡扣配合的卡槽。

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