[实用新型]一种测量晶体厚度和直径的装置有效
| 申请号： | 202120550539.X | 申请日： | 2021-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN214173188U | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨科友半导体产业装备与技术研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02;G01B5/06;G01B5/08 |
| 代理公司： | 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 | 代理人： | 荣玲 |
| 地址： | 150000 黑龙江省哈尔滨市松北区智谷二街3*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测量 晶体 厚度 直径 装置 | ||
1.一种测量晶体厚度和直径的装置，其特征在于：包括底板(1)、升降支架(2)、支臂(3)、千分表(4)和标尺(5)，底板(1)一侧上表面配合安装有标尺(5)，底板(1)另一侧上表面安装有升降支架(2)，升降支架(2)的升降端安装有支臂(3)，支臂(3)上配合安装有千分表(4)。
2.根据权利要求1所述的一种测量晶体厚度和直径的装置，其特征在于：所述千分表(4)底部配合安装有特氟龙平面表头(41)。
3.根据权利要求1所述的一种测量晶体厚度和直径的装置，其特征在于：所述升降支架(2)包括支架本体(21)、手摇把手(22)、丝杆(23)和滑块(24)，支架本体(21)底部安装在底板(1)上，手摇把手(22)与丝杆(23)顶部连接安装，丝杆(23)通过轴承(6)与支架本体(21)顶部配合安装，滑块(24)一端滑动套装在支架本体(21)上，滑块(24)另一端与丝杆(23)螺纹配合安装，滑块(24)上安装有支臂(3)。
4.根据权利要求1所述的一种测量晶体厚度和直径的装置，其特征在于：所述底板(1)上表面设置有凸起(11)，标尺(5)一端设置有滑动安装槽(51)，滑动安装槽(51)与凸起(11)啮合安装，并通过锁紧螺钉(52)相对锁紧固定。
5.根据权利要求3所述的一种测量晶体厚度和直径的装置，其特征在于：所述支臂(3)包括支臂本体(31)、横向丝杆(32)、横向滑块(33)、调节固定夹(34)和转盘把手(35)，支臂本体(31)右端安装在滑块(24)上，支臂本体(31)上加工有滑槽(311)，横向丝杆(32)至于滑槽(311)内部，横向丝杆(32)通过轴承(6)与支臂本体(31)配合安装，横向丝杆(32)左端贯穿支臂本体(31)后与转盘把手(35)连接安装，横向滑块(33)滑动安装在滑槽(311)内，并且与横向丝杆(32)螺纹配合安装，千分表(4)通过调节固定夹(34)与横向滑块(33)连接安装。
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