[实用新型]一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具

权利要求书

1.一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，包括底座（1），其特征在于：所述底座（1）的顶部固定连接有固定块（2），所述固定块（2）的正面固定连接有固定轴承（3），所述固定轴承（3）的内环固定连接有转轴（4），所述转轴（4）的一端固定连接有固定夹块（5），所述固定夹块（5）的一侧固定连接有第一防护垫（6），所述固定夹块（5）的底部固定连接有稳定块（7），所述稳定块（7）的一侧开设有稳定孔（8），所述底座（1）的顶部固定连接有支撑块（9），所述支撑块（9）的一侧开设有螺纹孔（10）；

所述螺纹孔（10）的内壁活动连接有螺纹轴（11），所述螺纹轴（11）的一端固定连接有摇盘（12），所述螺纹轴（11）的另一端活动连接有活动夹块（13），所述活动夹块（13）的一侧固定连接有活动轴承（14），所述活动夹块（13）的底部固定连接有连接块（16），所述连接块（16）的一侧固定连接有稳定杆（17）。

2.根据权利要求1所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述固定轴承（3）的形状大小与转轴（4）的形状大小均相互匹配，且固定块（2）通过固定轴承（3）与转轴（4）活动连接。

3.根据权利要求1所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述稳定块（7）的数量为两个，且两个稳定块（7）以固定夹块（5）的水平中线为对称轴对称设置。

4.根据权利要求1所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述固定块（2）的形状大小与支撑块（9）的形状大小均相同，且固定块（2）的水平中线与支撑块（9）的水平中线重合。

5.根据权利要求1所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述螺纹轴（11）通过螺纹孔（10）贯穿支撑块（9）的一侧并延伸至支撑块（9）的另一侧，且支撑块（9）通过螺纹孔（10）与螺纹轴（11）活动连接。

6.根据权利要求1所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述活动夹块（13）的一侧固定连接有活动轴承（14），且活动轴承（14）的形状大小与螺纹轴（11）的形状大小均相互匹配，且活动夹块（13）通过活动轴承（14）与螺纹轴（11）活动连接。

7.根据权利要求1所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述固定夹块（5）的形状大小和活动夹块（13）的形状大小均相同，且固定夹块（5）和活动夹块（13）以底座（1）的中垂线为对称轴对称设置，且第一防护垫（6）和第二防护垫（15）均为橡胶防护垫。

8.根据权利要求1所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述稳定杆（17）通过稳定孔（8）贯穿稳定块（7）的一侧并延伸至稳定块（7）的另一侧，且连接块（16）通过稳定杆（17）和稳定孔（8）与稳定块（7）活动连接。