[实用新型]一种半导体检测治具

说明书

本实用新型涉及半导体技术领域，且公开了一种半导体检测治具，包括放置框架，所述放置框架的正面开设有方槽，所述放置框架的正面开设有立槽，所述立槽的内壁活动连接有连接销，所述连接销的外壁活动连接有隔断块，所述隔断块的外壁设置有垫片，所述放置框架的顶部固定连接有挡块，所述放置框架的正面开设有滑槽，所述放置框架的一侧活动连接有螺杆，所述螺杆的一端固定连接有把手，所述螺杆的外壁固定连接有连接杆。该半导体检测治具在进行半导体电路板进行检测工作时相比一般的半导体检测治具省去了大量的对比标准电路板的时间以及精力，使得人们的半导体检测工作更加方便快捷，提升了半导体检测的效率。

技术领域

本实用新型涉及半导体技术领域，具体为一种半导体检测治具。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明和大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的，大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，常见的半导体材料有硅、锗和砷化镓等，硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种。

随着社会的发展以及我国科技水平的不断提高，半导体原件的生产制造水平以及达到了极高的水平，尤其是手机中的集成电路板，在半导体进行生产之后需要对电路进行检测，需要使用到半导体检测治具，但是现有的半导体检测治具在进行使用时往往不便于对电路板进行对比检测，导致人们在检测过程中耗费大量的时间以及精力对标准电路板上的电路进行对比工作，导致半导体元件的检测工作效率不高。

实用新型内容

（一）解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种半导体检测治具，具备便于对比检测等优点，解决了一般的半导体检测治具不便于对比检测的问题。

（二）技术方案

为实现上述该半导体检测治具便于对比检测的目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体检测治具，包括放置框架，所述放置框架的正面开设有方槽，所述放置框架的正面开设有立槽，所述立槽的内壁活动连接有连接销，所述连接销的外壁活动连接有隔断块，所述隔断块的外壁设置有垫片，所述放置框架的顶部固定连接有挡块，所述放置框架的正面开设有滑槽。

所述放置框架的一侧活动连接有螺杆，所述螺杆的一端固定连接有把手，所述螺杆的外壁固定连接有连接杆，所述连接杆的外壁套设有轴承，所述轴承的外壁固定连接有滑块，所述滑块的正面固定连接有安装块，所述安装块的一侧固定连接有限位座，所述限位座的正面设置有插销，所述插销的外壁活动连接有推板。

优选的，所述放置框架的背面固定连接有防滑垫，所述防滑垫和垫片均为橡胶垫。

优选的，所述滑槽的形状大小与滑块的形状大小均相互匹配，且滑块的外壁与滑槽的内壁活动连接。

优选的，所述放置框架的一侧开设有内螺纹槽，且螺杆的外壁设置有外螺纹，且螺杆通过内螺纹槽和外螺纹与放置框架螺纹连接。

优选的，所述插销的一端分别贯穿限位座的顶部和推板的顶部并延伸至限位座的底部，且推板通过插销与限位座活动连接。

优选的，所述立槽的形状大小与隔断块的形状大小均相互匹配，且隔断块通过连接销和立槽与放置框架活动连接。

优选的，所述隔断块的外壁开设有放置槽，且垫片设置在放置槽的内壁。

优选的，所述挡块的数量为两个，且两个挡块以放置框架的中垂线为对称轴对称设置。

（三）有益效果

与现有技术相比，本实用新型提供了一种半导体检测治具，具备以下有益效果：