[实用新型]一种半导体检测治具

权利要求书

1.一种半导体检测治具，包括放置框架（1），其特征在于：所述放置框架（1）的正面开设有方槽（2），所述放置框架（1）的正面开设有立槽（3），所述立槽（3）的内壁活动连接有连接销（4），所述连接销（4）的外壁活动连接有隔断块（5），所述隔断块（5）的外壁设置有垫片（6），所述放置框架（1）的顶部固定连接有挡块（7），所述放置框架（1）的正面开设有滑槽（8）；

所述放置框架（1）的一侧活动连接有螺杆（10），所述螺杆（10）的一端固定连接有把手（9），所述螺杆（10）的外壁固定连接有连接杆（11），所述连接杆（11）的外壁套设有轴承（12），所述轴承（12）的外壁固定连接有滑块（13），所述滑块（13）的正面固定连接有安装块（14），所述安装块（14）的一侧固定连接有限位座（15），所述限位座（15）的正面设置有插销（16），所述插销（16）的外壁活动连接有推板（17）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体检测治具，其特征在于：所述放置框架（1）的背面固定连接有防滑垫（18），所述防滑垫（18）和垫片（6）均为橡胶垫。

3.根据权利要求1所述的一种半导体检测治具，其特征在于：所述滑槽（8）的形状大小与滑块（13）的形状大小均相互匹配，且滑块（13）的外壁与滑槽（8）的内壁活动连接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体检测治具，其特征在于：所述放置框架（1）的一侧开设有内螺纹槽，且螺杆（10）的外壁设置有外螺纹，且螺杆（10）通过内螺纹槽和外螺纹与放置框架（1）螺纹连接。

5.根据权利要求1所述的一种半导体检测治具，其特征在于：所述插销（16）的一端分别贯穿限位座（15）的顶部和推板（17）的顶部并延伸至限位座（15）的底部，且推板（17）通过插销（16）与限位座（15）活动连接。

6.根据权利要求1所述的一种半导体检测治具，其特征在于：所述立槽（3）的形状大小与隔断块（5）的形状大小均相互匹配，且隔断块（5）通过连接销（4）和立槽（3）与放置框架（1）活动连接。

7.根据权利要求1所述的一种半导体检测治具，其特征在于：所述隔断块（5）的外壁开设有放置槽，且垫片（6）设置在放置槽的内壁。

8.根据权利要求1所述的一种半导体检测治具，其特征在于：所述挡块（7）的数量为两个，且两个挡块（7）以放置框架（1）的中垂线为对称轴对称设置。