[实用新型]一种压力可控式电磁参数样品制备装置

说明书

本实用新型提供一种压力可控式电磁参数样品制备装置，包括底座(1)、底杆(2)、套筒(4)、顶杆(5)、压力传感器(6)、压杆(7)；其中，所述底座表面具有凹槽，所述底杆安装定位在所述凹槽内；所述套筒套设定位在所述底杆上，内部形成空腔，以容纳电磁参数样品材料；所述顶杆插入到所述空腔内，以压制电磁参数样品材料；所述压杆用于向下按压以向顶杆施加压力，所述压力传感器安装在压杆下表面，并与顶杆接触，用于测试压杆的压力。通过上述结构将底杆定位安装在底座，将套筒以及顶杆定位在底杆上。采用杠杆结构以及压力传感器，简单、精确完成实验样品压制动作，并具有结构简单、体积小、安装和拆卸容易、脱模容易、成本低的优点。

技术领域

本实用新型涉及电磁参数样品制备领域，具体而言涉及一种压力可控式电磁参数样品制备装置。

背景技术

在现代材料的研究应用中，很多时候需要测试粉末状、颗粒状或半凝固状材料的电磁参数。通常，这些粉末状、颗粒状或半凝固状材料需要加工成固体以便于进行测试。并且，这些材料在加工时，需要在尺寸、厚度、平整度以及形状上满足测试要求。由于这些材料具有难以加工成形的特点，通常都需要有专门的样品制备装置(即夹具)来对样品进行制备成型，以满足所需要的测试参数。

由于对不同材料制备测试样品时，对夹具的要求也不相同，仪器厂商无法提供统一的制式夹具，只能由用户根据需要自制。不够简单、精度不高、功能不足是自制夹具存在的共同问题，难以满足电磁参数测试方法中对测量精度、样品厚度的要求。同时，对于同一材料的多个测试样品，控制精度不够时，多个样品具有较大差异，会带来较大的测试数据偏差，样品制备效果不理想。然而，一些精度稍高的制备装置却具有结构复杂、体积大、制造成本高等缺点。

因此，需要提供一种兼顾结构简单和精度高优点的电磁参数样品制备装置。

发明内容

本实用新型针对上述现有技术中的不足，提出了一种压力可控式电磁参数样品制备装置。该电磁参数样品制备装置采用底座、底杆、套筒相互套设的结构来容纳样品材料，并采用压杆和底座之间的杠杆结构，向下施加压力。同时，通过压力传感器检测压杆向下施加的压力，以精确控制压力值。整体装置实现结构非常简单、体积小、精度高以及制造成本低的技术效果。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种压力可控式电磁参数样品制备装置，包括底座(1)、底杆(2)、套筒(4)、顶杆(5)、压力传感器(6)、压杆(7)；其中，所述底座(1)表面具有凹槽，所述底杆(2) 安装定位在所述凹槽内；所述套筒(4)套设定位在所述底杆(2)上，内部形成空腔，以容纳电磁参数样品材料；所述顶杆(5)插入到所述空腔内，以压制电磁参数样品材料；所述压杆(7)用于向下按压以向顶杆(5)施加压力，所述压力传感器(6)安装在压杆下表面，并与顶杆接触，用于测试压杆的压力。

可选地，还包括压力表(8)，所述压力表安装在所述压杆(7)的上表面，用于显示压力传感器(6)检测到的压力值。

可选地，所述底座向斜上方延伸有拉杆，并通过销(9)与压杆(7)枢接，形成杠杆结构。

可选地，所述底座表面的凹槽呈圆形，位于底座表面中部。

可选地，所述底杆(2)具有一圆形底盘，所述底盘的直径与所述凹槽的直径相同。

可选地，所述底杆(2)的底盘上突出有圆形凸台，所述套筒(4)与所述底杆(2)通过凸台定位连接。

可选地，所述套筒(4)的外径与底杆2)的底盘直径相同，所述套筒(4) 的内径小于所述底杆(2)的凸台直径，且套筒内部下端与所述凸台的外周匹配。

可选地，所述套筒(4)内部形成直径为3mm的圆柱形空腔。

可选地，所述顶杆(5)呈T形，在其顶端有一圆形平面，向下延伸为中空结构的圆柱筒；所述圆柱筒的外径为3mm，以配合插入到所述套筒(4)内部的空腔内。