[实用新型]一种压力可控式电磁参数样品制备装置

权利要求书

1.一种压力可控式电磁参数样品制备装置，其特征在于，包括底座(1)、底杆(2)、套筒(4)、顶杆(5)、压力传感器(6)、压杆(7)；其中，所述底座(1)表面具有凹槽，所述底杆(2)安装定位在所述凹槽内；所述套筒(4)套设定位在所述底杆(2)上，内部形成空腔，以容纳电磁参数样品材料(3)；所述顶杆(5)插入到所述空腔内，以压制电磁参数样品材料；所述压杆(7)用于向下按压以向顶杆(5)施加压力，所述压力传感器(6)安装在压杆下表面，并与顶杆接触，用于测试压杆的压力。

2.如权利要求1所述的一种压力可控式电磁参数样品制备装置，其特征在于，还包括压力表(8)，所述压力表安装在所述压杆(7)的上表面，用于显示压力传感器(6)检测到的压力值。

3.如权利要求1所述的一种压力可控式电磁参数样品制备装置，其特征在于，所述底座(1)向斜上方延伸有拉杆，并通过销(9)与压杆(7)枢接，形成杠杆结构。

4.如权利要求1所述的一种压力可控式电磁参数样品制备装置，其特征在于，所述底座(1)表面的凹槽呈圆形，位于底座表面中部。

5.如权利要求4所述的一种压力可控式电磁参数样品制备装置，其特征在于，所述底杆(2)具有一圆形底盘，所述底盘的直径与所述凹槽的直径相同。

6.如权利要求5所述的一种压力可控式电磁参数样品制备装置，其特征在于，所述底杆(2)的底盘上突出有圆形凸台，所述套筒(4)与所述底杆(2)通过凸台定位连接。

7.如权利要求6所述的一种压力可控式电磁参数样品制备装置，其特征在于，所述套筒(4)的外径与底杆(2)的底盘直径相同，所述套筒(4)的内径小于所述底杆(2)的凸台直径，且套筒(4)内部下端与所述凸台的外周匹配。

8.如权利要求7所述的一种压力可控式电磁参数样品制备装置，其特征在于，所述套筒(4)内部形成直径为3mm的圆柱形空腔。

9.如权利要求8所述的一种压力可控式电磁参数样品制备装置，其特征在于，所述顶杆(5)呈T形，在其顶端有一圆形平面，向下延伸为中空结构的圆柱筒；所述圆柱筒的外径为3mm，以配合插入到所述套筒(4)内部的空腔内。

10.如权利要求1所述的一种压力可控式电磁参数样品制备装置，其特征在于，所述底杆(2)向上伸出有圆柱形杆，用于定位顶杆(5)下端的圆柱筒。