[实用新型]清洗装置有效
申请号: | 202120158265.X | 申请日: | 2021-01-20 |
公开(公告)号: | CN214683121U | 公开(公告)日: | 2021-11-12 |
发明(设计)人: | 王秋林;周利刚;张锐 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | B08B3/02 | 分类号: | B08B3/02;B08B3/08;B08B15/04;B08B13/00;H01L21/67 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 李路遥;张颖玲 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 清洗 装置 | ||
本实用新型实施例提供了一种清洗装置,包括:承载部件、喷嘴及第一管路;其中,对待清洗器件进行清洗时,所述待清洗器件设置在所述承载部件上;所述喷嘴设置在所述待清洗器件的上方,用于向所述待清洗器件喷射第一液体,以清洗所述待清洗器件;所述第一管路的进气口设置在与所述喷嘴靠近的位置,用于排出第一气体;所述第一气体是在清洗所述待清洗器件过程中,由所述第一液体形成的。
技术领域
本实用新型涉及半导体技术领域,尤其涉及一种清洗装置。
背景技术
在半导体的制造过程中,需要在晶圆上进行各种工艺处理,如蚀刻、氧化、沉积、去光阻以及化学机械研磨等。这些工艺处理,在实现晶圆功能的同时,均会或多或少的在晶圆表面产生污染物,如有机附着物、颗粒、金属附着物以及氧化膜等。这些污染物若不及时去除,附着在晶圆表面会极大的影响晶圆性能,因此,在晶圆的制造过程中,对晶圆进行清洗来清除污染物必不可少。
然而,相关技术中的清洗装置存在清洗效果不佳的问题。
实用新型内容
为解决现有存在的技术问题,本实用新型实施例提出一种清洗装置。
本实用新型实施例提供了一种清洗装置,包括:
承载部件、喷嘴及第一管路;其中,
对待清洗器件进行清洗时,所述待清洗器件设置在所述承载部件上;
所述喷嘴设置在所述待清洗器件的上方,用于向所述待清洗器件喷射第一液体,以清洗所述待清洗器件;
所述第一管路的进气口设置在与所述喷嘴靠近的位置,用于排出第一气体;所述第一气体是在清洗所述待清洗器件过程中,由所述第一液体形成的。
上述方案中,所述第一管路的材质包括疏水性材质。
上述方案中,所述疏水性材质包括可溶性聚四氟乙烯(PFA,PerFluoroAlkoxy)。
上述方案中,所述清洗装置还包括第二管路,所述第二管路与所述第一管路连接;第二液体通过所述第二管路被通入至所述第一管路中,以清洗所述第一管路;
所述清洗装置还包括第三管路,所述第三管路与所述第一管路连接;第二气体通过所述第三管路被通入至所述第一管路中,以干燥所述第一管路。
上述方案中,所述第二管路设置在靠近所述第一管路的出气口的一端,且通过第一三通阀门与所述第一管路连接;
所述第三管路设置在所述第一管路的出气口与所述第二管路之间,且通过第二三通阀门与所述第一管路连接。
上述方案中,所述第一三通阀门包括第一阀门、第二阀门及第三阀门;所述第一阀门和所述第二阀门设置在所述第一管路上,所述第三阀门设置在所述第二管路上;所述第二三通阀门包括第四阀门、第五阀门及第六阀门;所述第四阀门和所述第五阀门设置在所述第一管路上,所述第六阀门设置在所述第三管路上;
在清洗所述待清洗器件过程中,通过开启所述第一阀门、第二阀门、第四阀门和第五阀门,且关闭所述第三阀门和所述第六阀门,以使所述第一气体通过所述第一管路排出;
在所述待清洗器件清洗完成后,通过开启所述第二阀门和所述第三阀门,且关闭所述第一阀门、第四阀门、第五阀门和第六阀门,将所述第二液体通入至所述第一管路中,以清洗所述第一管路;
在所述第一管路清洗完成后,通过开启所述第一阀门、第二阀门、第五阀门和第六阀门,且关闭所述第三阀门和所述第四阀门,将所述第二气体通入至所述第一管路中,以干燥所述第一管路。
上述方案中,所述清洗装置还包括移动部件,所述喷嘴设置在所述移动部件上,所述移动部件能够带动所述喷嘴在所述待清洗器件的上方移动;当所述喷嘴在所述待清洗器件的上方移动时,所述第一管路的进气口随着所述喷嘴的移动而移动。
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