[实用新型]高集成度的开关保持电路

说明书

本实用新型涉及一种开关保持电路，尤其是一种高集成度的开关保持电路。按照本实用新型提供的技术方案，所述高集成度的开关保持电路，包括用于检测按键闭合式开关S1按压状态的上升沿检测单元以及用于接收关机信号的下降沿检测单元，所述上升沿检测单元、下降沿检测单元与开关状态锁存单元连接，所述开关状态锁存单元通过上电状态初始化单元与供电控制单元连接；初始上电后，通过上电状态初始化单元能初始化开关状态锁存单元锁存的开关状态信息；通过供电控制单元能控制电源输入连接V_BAT端与电源输出VDD端连接状态，本实用新型能实现开关电压保持，降低电路的复杂度，提高集成度，安全可靠。

技术领域

本实用新型涉及一种开关保持电路，尤其是一种高集成度的开关保持电路。

背景技术

目前，对许多电子产品，通常在用户按下按键闭合式开关后，电池开始通过开关管向内部电路供电，系统能开机工作。在开关管导通后，电子产品内的MCU需要经过一段启动延时后才能进入正常工作状态，然后控制开关管的栅极电压，直到MCU控制系统关机，开关管的栅极电位才会改变并切换至关断状态。

在用户按下按键闭合式开关且又释放之后，需要具有状态保持作用的电路维持开关管的栅极电位，直到MCU进入正常工作状态接管开关管的栅极。

为了实现上述目的，目前利用电容的电荷保持作用，以能实现维持开关管的栅极电位，但必须在PCB板上使用uF量级的大电容并配合额外的电路结构才能实现开关管电压保持的功能。但所述方式的分立元件数量大、系统集成度低、成本较高。

因此，如何降低开关保持电路的复杂度，以及如何提高开关保持电路的集成度成为亟待解决的问题。

发明内容

本实用新型的目的是克服现有技术中存在的不足，提供一种高集成度的开关保持电路，其能实现开关电压保持，降低电路的复杂度，提高集成度，安全可靠。

按照本实用新型提供的技术方案，所述高集成度的开关保持电路，包括用于检测按键闭合式开关S1按压状态的上升沿检测单元以及用于接收关机信号的下降沿检测单元，所述上升沿检测单元、下降沿检测单元与开关状态锁存单元连接，所述开关状态锁存单元通过上电状态初始化单元与供电控制单元连接；初始上电后，通过上电状态初始化单元能初始化开关状态锁存单元锁存的开关状态信息；通过供电控制单元能控制电源输入连接V_BAT端与电源输出VDD端连接状态，

通过上升沿检测单元能检测按键闭合式开关S1的按压状态，按压按键闭合式开关S1后，通过上升沿检测单元能输出开关按压信号，开关状态锁存单元根据所述开关按压信号能输出开关状态置位信号，通过所述开关置位信号能使得供电控制单元处于导通状态，以实现电源输入连接V_BAT端与电源输出VDD端的电连接；

通过下降沿检测单元检测到关机信号后，所述下降沿检测单元能向开关状态锁存单元输出关机断电信号，开关状态锁存单元根据关机断电信号输出并锁存开关状态复位信号，通过所述开关状态复位信号能使得供电控制单元处于关断状态，以切断电源输入连接V_BAT端与电源输出VDD端的电连接。

所述按键闭合式开关S1的一端与电源输入连接V_BAT端电连接，按键闭合式开关S1的另一端与按键Key端连接，所述按键Key端与上升沿检测单元以及MCU的输入端口连接，MCU的输出端口与下降沿检测单元连接。

所述上升沿检测单元包括反相器INV2、电容C2以及与门AND1，反相器INV2的输入端以及与门AND1的一输入端均与按键闭合式开关S1适配连接，反相器INV2的输出端与电容C2的一端以及与门AND2的另一输入端连接，电容C2的另一端接地，与门AND2的输出端与开关状态锁存单元连接。

所述反相器INV2的输入端还与电阻R4的一端连接，电阻R4的另一端接地。