[实用新型]一种金属材料检测用的晶粒度测试装置

说明书

本实用新型提供一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，涉及晶粒度技术领域，本实用新型包括显微镜和调节装置，显微镜的表面固定连接有光板，显微镜的表面固定连接有两个镜头，显微镜的表面设有调节装置，调节装置包括有固定架，固定架与显微镜的表面滑动连接，固定架远离显微镜的表面固定连接有连接板，连接板远离固定架的表面滑动插设有两个固定杆。本实用新型解决了工作人员长时间在显微镜上观察容易碰到显微镜上的镜头，进而导致观测的位置发生偏移，工作人员可用手机对显微镜镜头处进行拍摄之后对数据进行测量，但是由于显微镜上没有针对手机进行限位的结构，直接用手拍照容易导致拍出照片不清晰的问题。

技术领域

本实用新型涉及晶粒度技术领域，尤其涉及一种金属材料检测用的晶粒度测试装置。

背景技术

晶粒大小的度量称为晶粒度，即晶粒度是表示晶粒大小的尺度，常用的表示方法有单位体积的晶粒数目，单位面积内的晶粒数目或晶粒的平均线长度，金属结晶时，每个晶粒都是由一个晶核长大而成的，因此晶粒的大小取决于晶核的数目和晶粒长大速度的相对大小。

金属材料科学领域的晶粒度的测量方法主要是通过金相显微镜观察，工作人员通常需要趴在显微镜上进行观测，工作人员长时间在显微镜上观察容易碰到显微镜上的镜头，进而导致观测的位置发生偏移，工作人员可用手机对显微镜镜头处进行拍摄之后对数据进行测量，但是由于显微镜上没有针对手机进行限位的结构，直接用手拍照容易导致拍出的照片不清晰。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，包括显微镜和调节装置，所述显微镜的表面固定连接有光板，所述显微镜的表面固定连接有两个镜头，所述显微镜的表面设有调节装置，所述调节装置包括有固定架，所述固定架与显微镜的表面滑动连接，所述固定架远离显微镜的表面固定连接有连接板，所述连接板远离固定架的表面滑动插设有两个固定杆，所述固定杆呈“L”形结构，两个所述固定杆彼此靠近的一侧固定连接有转环，两个所述固定杆远离转环的一端固定连接有限位架，所述限位架远离固定杆的表面螺纹插设有螺栓。

优选的，所述固定架远离显微镜的表面固定连接有连接杆，所述连接杆远离固定架的一侧固定连接有螺杆。

优选的，所述螺杆的表面螺纹连接有螺环，所述螺环的侧壁与转环转动连接，所述螺环远离转环的一侧均匀固定连接有四个固定块。

优选的，所述固定架的表面设有安装结构，所述安装结构包括有四个限位棒，四个所述限位棒均与固定架的内部滑动连接，四个所述限位棒靠近显微镜的一端固定连接有矩形板，四个所述限位棒远离矩形板的一端均固定连接有圆块。

优选的，所述矩形板靠近固定架内壁的一侧固定连接有限位环，所述限位环的内壁转动连接有圆板，所述圆板远离矩形板的表面固定连接有驱动杆，所述驱动杆与固定架的内部螺纹连接。

优选的，所述矩形板远离驱动杆的一侧开设有矩形槽，矩形槽的内壁卡接有防滑垫。

与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果在于，

1、本实用新型中，通过设置调节装置，将手机卡放在限位架上，将手机上的摄像头移动至与显微镜上镜头同一水平线的位置后，转动限位架上的螺栓，螺栓会将手机固定在限位架上，转动螺杆上的螺环，螺环会带动转环在螺杆上进行移动，由于转环与固定杆之间是固定连接的，转环会带动固定杆在连接板上进行滑动，从而可达到调节限位架上手机位置的效果，进而可达到对手机上摄像头进行定位的效果，其中固定杆在连接板上进行移动可达到限制限位架移动方向的效果，其中螺环上的固定块具有防止工作人员转动螺环时手滑的效果，调节装置的设置解决了由于显微镜上没有针对手机进行限位的结构，直接用手拍照容易导致拍出照片不清晰的问题。