[实用新型]一种金属材料检测用的晶粒度测试装置

权利要求书

1.一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，包括显微镜(1)和调节装置(4)，其特征在于：所述显微镜(1)的表面固定连接有光板(2)，所述显微镜(1)的表面固定连接有两个镜头(3)，所述显微镜(1)的表面设有调节装置(4)，所述调节装置(4)包括有固定架(401)，所述固定架(401)与显微镜(1)的表面滑动连接，所述固定架(401)远离显微镜(1)的表面固定连接有连接板(404)，所述连接板(404)远离固定架(401)的表面滑动插设有两个固定杆(407)，所述固定杆(407)呈“L”形结构，两个所述固定杆(407)彼此靠近的一侧固定连接有转环(408)，两个所述固定杆(407)远离转环(408)的一端固定连接有限位架(403)，所述限位架(403)远离固定杆(407)的表面螺纹插设有螺栓(406)。

2.根据权利要求1所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述固定架(401)远离显微镜(1)的表面固定连接有连接杆(402)，所述连接杆(402)远离固定架(401)的一侧固定连接有螺杆(405)。

3.根据权利要求2所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述螺杆(405)的表面螺纹连接有螺环(410)，所述螺环(410)的侧壁与转环(408)转动连接，所述螺环(410)远离转环(408)的一侧均匀固定连接有四个固定块(409)。

4.根据权利要求1所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述固定架(401)的表面设有安装结构(5)，所述安装结构(5)包括有四个限位棒(55)，四个所述限位棒(55)均与固定架(401)的内部滑动连接，四个所述限位棒(55)靠近显微镜(1)的一端固定连接有矩形板(53)，四个所述限位棒(55)远离矩形板(53)的一端均固定连接有圆块(56)。

5.根据权利要求4所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述矩形板(53)靠近固定架(401)内壁的一侧固定连接有限位环(54)，所述限位环(54)的内壁转动连接有圆板(57)，所述圆板(57)远离矩形板(53)的表面固定连接有驱动杆(51)，所述驱动杆(51)与固定架(401)的内部螺纹连接。

6.根据权利要求5所述的一种金属材料检测用的晶粒度测试装置，其特征在于：所述矩形板(53)远离驱动杆(51)的一侧开设有矩形槽，矩形槽的内壁卡接有防滑垫(52)。