[发明专利]一种曲面板构件损伤检测方法、系统及存储介质

说明书

本发明公开了一种曲面板构件损伤检测方法、系统及存储介质。本发明控制多晶片CLT波相控阵阵列的各激发阵元发射不同相位的信号，可以增强特定选择的单一CLT波模态幅值，实现CLT波束偏转和聚焦。通过各接收阵元获取的反射信号定位出曲面板损伤位置，达到检测效率高且耗费的人力成本少的目的。解决了目前对于曲面板构件的超声波检测采用逐点检测方法，费时费人工的问题。

技术领域

本发明涉及曲面板损伤检测领域，尤其涉及的是一种曲面板构件损伤检测方法、系统及存储介质。

背景技术

无损检测技术是现代结构制造和使用过程中必不可少的检测手段之一，广泛应用于各个领域。常见的复杂曲面构件如大型飞机机翼、风机叶片等受到加工工艺与各种工况荷载或极端工作环境的影响，极易产生微裂纹、孔洞、分层等损伤缺陷，带来严重的安全隐患。因此，对曲面板进行实时监测和诊断成为无损检测技术应用中的一个重要方面。超声波损伤检测是一种主动损伤检测技术，通过向被测结构或构件中发射超声波对其内部的损伤进行检测和定位。目前对于曲面板构件的超声波检测采用的是逐点检测的方法，这种技术的最大缺点就是费时费人工。

因此，现有技术还有待改进和发展。

发明内容

本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种曲面板构件损伤检测方法、系统及存储介质，旨在解决现有技术中对于曲面板构件的超声波检测采用逐点检测方法，费时费人工的问题。

本发明解决问题所采用的技术方案如下：

第一方面，本发明实施例提供一种曲面板构件损伤检测方法，其中，所述方法包括：

确定待处理曲面板，通过位于所述待处理曲面板正面的若干激发阵元输出合成波形，其中，若干所述激发阵元组成多晶片CLT波相控阵阵列，所述合成波形基于若干所述激发阵元分别输出的发射信号生成，若干所述发射信号若分别对应不同的相位；

通过位于所述待处理曲面板背面的若干接收阵元获取若干反射信号，其中，若干所述接收阵元与若干所述激发阵元的设置位置一一对应，若干所述反射信号基于所述合成波形反射得到；

获取所述待处理曲面板对应的标准曲面板模型，其中，所述标准曲面板模型用于反映无损伤的所述待处理曲面板；

通过所述标准曲面板模型获取若干所述接收阵元分别对应的标准反射信号，根据若干所述接收阵元分别对应的所述反射信号和所述标准反射信号确定所述待处理曲面板上的损伤位置信息。

在一种实施方式中，所述通过位于所述待处理曲面板正面的若干激发阵元输出合成波形，包括：

确定若干所述激发阵元分别对应的时间延迟数据，其中，若干所述时间延迟数据互不相同；

将若干所述时间延迟数据分别添加到Hanning窗的五周期正弦信号中，得到若干所述激发阵元分别对应的所述发射信号；

通过若干所述激发阵元分别输出的所述发射信号，得到所述合成波形。

在一种实施方式中，所述确定若干所述激发阵元分别对应的时间延迟数据，包括：

获取所述多晶片CLT波相控阵阵列对应的信号中心频率值，根据所述信号中心频率值和所述尺寸信息确定所述待处理曲面板对应的目标频散曲线；

根据所述目标频散曲线确定目标CLT波模态和群速度值；

获取激发阵元总数量、每一所述激发阵元对应的激发阵元坐标数据以及相邻两个所述激发阵元之间的间距值；

根据所述激发阵元总数量、所述间距值、所述群速度值以及每一所述激发阵元坐标数据，确定每一所述激发阵元对应的所述时间延迟数据。

在一种实施方式中，所述根据所述信号中心频率值和所述尺寸信息确定所述待处理曲面板对应的目标频散曲线，包括：