[发明专利]检查装置和带扩展装置在审
申请号: | 202111674053.8 | 申请日: | 2021-12-31 |
公开(公告)号: | CN114765114A | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | 川口吉洋 | 申请(专利权)人: | 株式会社迪思科 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L21/67;H01L21/683 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 乔婉;杨俊波 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检查 装置 扩展 | ||
1.一种检查装置,其在确认通过将处于第1面侧粘贴于带的状态的板状的工件沿着分割预定线进行分割而得到的两个相邻的芯片的间隔时使用,其中,
该检查装置包含:
工作台,其对按照围绕该工件的方式粘贴于该带的环状的框架进行保持;
光源,其对借助该框架和该带而保持于该工作台的该工件的该第1面或该第1面的相反侧的第2面照射光;
照相机,其对该第1面和该第2面中的未被该光源照射光的一方进行拍摄而生成图像;
阈值存储部,其存储通过该照相机而生成的图像中所映现的两个相邻的该芯片之间的像素的亮度的阈值;
评价图像生成部,其生成根据利用该阈值进行划分的该亮度的分类而对该像素赋予了不同颜色的评价图像;
图像显示部,其将该评价图像显示在显示装置上;以及
阈值变更部,其将该阈值进行变更并存储于该阈值存储部。
2.根据权利要求1所述的检查装置,其中,
在将通过该阈值变更部而变更的该阈值存储于该阈值存储部的情况下,
该评价图像生成部再次生成与变更后的该阈值对应的该评价图像,
该图像显示部使通过该评价图像生成部而再次生成的该评价图像显示在该显示装置上。
3.根据权利要求1或2所述的检查装置,其中,
该阈值变更部根据显示在该显示装置上的滑动条的钮部的位置而变更该阈值。
4.一种带扩展装置,其包含:
权利要求1至3中的任意一项所述的检查装置;以及
在该框架被保持于该工作台的状态下对该带进行扩展的带扩展单元。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造