[发明专利]测量直流参数的电路、方法及系统

权利要求书

1.一种测量直流参数的电路，其特征在于，所述电路包括主控单元、通道控制单元以及模数/数模转换单元；所述通道控制单元包括PMU通道，所述PMU通道的数量为至少一个；所述PMU通道包括PMU芯片电路以及输出放大电路，所述输出放大电路与所述PMU芯片电路连接，所述输出放大电路用于放大所述PMU芯片电路的输出电压，以增加所述PMU通道的量程；

所述主控单元与所述模数/数模转换单元连接，所述主控单元与所述通道控制单元连接，所述模数/数模转换单元与所述通道控制单元连接，所述通道控制单元与待测IC芯片连接；

所述主控单元用于通过所述模数/数模转换单元向所述通道控制单元传输测量信号，并通过所述模数/数模转换单元获取所述通道控制单元传输的测量结果；所述测量信号包括对所述待测IC芯片进行测量的电压的值；

所述通道控制单元用于根据所述测量信号以目标量程对所述待测IC芯片进行测量，并将采集到的测量结果通过所述模数/数模转换单元传输给所述主控单元；所述测量结果包括所述待测IC芯片的直流参数；所述目标量程为所述PMU通道的至少一个量程中的任意一个；

所述模数/数模转换单元用于将所述主控单元传输的数字信号转换为模拟信号，并传输给所述通道控制单元，所述模数/数模转换单元还用于将所述通道控制单元传输的模拟信号转换为数字信号，并传输给所述主控单元。

2.根据权利要求1所述的测量直流参数的电路，其特征在于，所述主控单元与所述通道控制单元连接；

所述主控单元用于控制所述通道控制单元中的目标PMU通道开启；所述目标PMU通道为所述PMU通道中的至少一个；

所述主控单元用于通过所述模数/数模转换单元向所述目标PMU通道传输测量信号，并通过所述模数/数模转换单元获取所述目标PMU通道传输的测量结果。

3.根据权利要求2所述的测量直流参数的电路，其特征在于，所述目标PMU通道包括第一目标PMU通道与第二目标PMU通道；

所述主控单元用于通过所述模数/数模转换单元向所述第一目标PMU通道传输测量信号，并通过所述模数/数模转换单元获取所述第二目标PMU通道传输的测量结果；

所述第一目标PMU通道用于向所述待测IC芯片传输电压/电流信号，并以所述目标量程测量所述待测IC芯片在所述电压/电流信号下的直流参数；所述电压/电流信号的值根据所述测量信号确定；

所述第二目标PMU通道用于采集对所述待测IC芯片进行测量得到的测量结果。

4.根据权利要求3所述的测量直流参数的电路，其特征在于，所述第一目标PMU通道通过所述第一目标PMU通道的第一连接线和第二连接线与所述待测IC芯片的正端连接，所述第一目标PMU通道通过所述第一目标PMU通道的第三连接线和第四连接线与所述待测IC芯片的负端连接；

所述第二目标PMU通道通过所述第二目标PMU通道的第一连接线和第二连接线与所述待测IC芯片的正端连接；所述第二目标PMU通道通过所述第二目标PMU通道的第三连接线和第四连接线与所述待测IC芯片的负端连接；

所述第一目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线用于传输所述电压/电流信号；

所述第二目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线用于采集所述测量结果；

所述第一目标PMU通道用于根据所述测量信号，通过所述第一目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线和第四连接线将所述电压/电流信号传输给所述待测IC芯片，并以所述目标量程测量所述待测IC芯片的直流参数；所述第二目标PMU通道用于通过所述第二目标PMU通道的第一连接线、第二连接线、第三连接线与所述第四连接线采集对所述待测IC芯片进行测量的测量结果。