[发明专利]一种基于SHA256算法的FPGA测试方法及系统

说明书

本发明涉及器件测试技术领域，具体涉及一种基于SHA256算法的FPGA测试方法及系统；将合格的FPGA器件与检测模块连接，通过激发模块启动检测电路，使得合格的FPGA器件向判断模块输出数据，作为训练集；将被测的FPGA器件与检测模块连接，通过激发模块启动检测电路，使得合格的FPGA器件向判断模块输出数据，作为测试集；利用神经网络分别计算训练集和测试集的哈希码，通过对比训练集和测试集所得到的汉明距离，从而得到被测的FPGA器件和合格的FPGA器件的差异度，当差异度过大可判断被测的FPGA器件不合格，通过上述系统，简化了测试流程，并降低了设备成本。

技术领域

本发明涉及器件测试技术领域，尤其涉及一种基于SHA256算法的FPGA测试方法及系统。

背景技术

SHA256算法是一种确定性的不可逆密码函数，对于一个给定长度的字符串，它能生成一个固定长度的密码字符串，如果有人改动了输入字符串中的任意一个字符，哪怕只是改了一个位置，都会导致输出密码串有很大的区别，由此可以用来快速确定输入值是否有变动。

随着信息技术的不断发展，FPGA(现场可编程门阵列)器件在各个领域获得了广泛的应用。伴随着FPGA器件的快速发展，FPGA器件包含有越来越多的逻辑资源，要求FPGA器件可实现越多的功能和越稳定的性能，因而对FPGA器件进行功能与性能的测试变得日益重要。

通常FPGA器件测试设备需要具有强大硬件和软件配置，才能满足拥有丰富逻辑资源的FPGA器件的功能及性能测试，导致FPGA器件测试设备的成本高昂。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于SHA256算法的FPGA测试方法及系统，旨在解决现有技术中FPGA器件测试设备需要具有强大硬件和软件配置，才能满足拥有丰富逻辑资源的FPGA器件的功能及性能测试，导致FPGA器件测试设备的成本高昂的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种基于SHA256算法的FPGA测试系统，所述基于SHA256算法的FPGA测试系统包检测模块、激发模块和判断模块，所述激发模块与所述检测模块连接，所述判断模块与所述检测模块电性连接；

所述检测模块用于安装被测的FPGA器件；

所述激发模块用于激发检测电路，使得被测的FPGA器件输出测试数据，并将测试数据传输至判断模块；

所述判断模块用于测试数据作为测试集，计算得到哈希码的汉明距离，并通过汉明距离判断被测的FPGA器件是否合格。

其中，所述判断模块包括神经网络单元和存储单元，所述存储单元与所述激发模块连接，所述神经网络单元与所述存储单元连接；

所述存储单元用于存储训练集，所述训练集为合格的FPGA器件的测试数据；

所述神经网络单元通过训练集优化神经卷积网络，并通过神经卷积网络计算训练集或测试集的哈希码。

其中，所述判断模块还包括对比单元，所述对比单元与所述神经网络单元连接，所述对比单元通过训练集的哈希码计算得到第一汉明距离，通过训练集的哈希码计算得到第二汉明距离，判断第一汉明距离和第二汉明距离之间的差值是否超过预设范围。

其中，所述检测模块包括安装单元和状态单元，所述连接单元与所述激发模块连接，所述状态单元与所述安装单元连接；

所述安装单元用于固定被测的FPGA器件，并为被测的FPGA器件供电；

所述状态单元用于显示所述安装单元的通电状态。

其中，所述激发模块包括控制单元和反馈单元，所述控制单元和所述反馈单元均与所述检测模块连接；

所述控制单元用于激发检测电路，使得被测的FPGA器件输出测试数据；