[发明专利]一种基于SHA256算法的FPGA测试方法及系统在审
| 申请号: | 202111645013.0 | 申请日: | 2021-12-30 |
| 公开(公告)号: | CN114443390A | 公开(公告)日: | 2022-05-06 |
| 发明(设计)人: | 黄世略;周燚;滕科;卢文东 | 申请(专利权)人: | 广西融恒信网络科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 石燕妮 |
| 地址: | 530000 广西壮族自治区南宁市*** | 国省代码: | 广西;45 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 sha256 算法 fpga 测试 方法 系统 | ||
1.一种基于SHA256算法的FPGA测试系统,其特征在于,
所述基于SHA256算法的FPGA测试系统包检测模块、激发模块和判断模块,所述激发模块与所述检测模块连接,所述判断模块与所述检测模块电性连接;
所述检测模块用于安装被测的FPGA器件;
所述激发模块用于激发检测电路,使得被测的FPGA器件输出测试数据,并将测试数据传输至判断模块;
所述判断模块用于测试数据作为测试集,计算得到哈希码的汉明距离,并通过汉明距离判断被测的FPGA器件是否合格。
2.如权利要求1所述的一种基于SHA256算法的FPGA测试方法及系统,其特征在于,
所述判断模块包括神经网络单元和存储单元,所述存储单元与所述激发模块连接,所述神经网络单元与所述存储单元连接;
所述存储单元用于存储训练集,所述训练集为合格的FPGA器件的测试数据;
所述神经网络单元通过训练集优化神经卷积网络,并通过神经卷积网络计算训练集或测试集的哈希码。
3.如权利要求2所述的一种基于SHA256算法的FPGA测试系统,其特征在于,
所述判断模块还包括对比单元,所述对比单元与所述神经网络单元连接,所述对比单元通过训练集的哈希码计算得到第一汉明距离,通过训练集的哈希码计算得到第二汉明距离,判断第一汉明距离和第二汉明距离之间的差值是否超过预设范围。
4.如权利要求3所述的一种基于SHA256算法的FPGA测试系统,其特征在于,
所述检测模块包括安装单元和状态单元,所述连接单元与所述激发模块连接,所述状态单元与所述安装单元连接;
所述安装单元用于固定被测的FPGA器件,并为被测的FPGA器件供电;
所述状态单元用于显示所述安装单元的通电状态。
5.如权利要求4所述的一种基于SHA256算法的FPGA测试系统,其特征在于,
所述激发模块包括控制单元和反馈单元,所述控制单元和所述反馈单元均与所述检测模块连接;
所述控制单元用于激发检测电路,使得被测的FPGA器件输出测试数据;
所述反馈单元用于采集测试数据,并将测试数据传输至所述判断模块。
6.一种FPGA测试方法,采用如权利要求5所述的基于SHA256算法的FPGA测试系统,其特征在于,包括如下步骤:
将合格的FPGA器件与所述检测模块连接,通过所述激发模块启动检测电路,使得合格的FPGA器件向所述判断模块输出数据,作为训练集;
将被测的FPGA器件与所述检测模块连接,通过所述激发模块启动检测电路,使得合格的FPGA器件向所述判断模块输出数据,作为测试集;
利用所述神经网络分别计算训练集和测试集的哈希码;
所述对比模块通过训练集的哈希码计算得到第一汉明距离,通过训练集的哈希码计算得到第二汉明距离,判断第一汉明距离和第二汉明距离之间的差值是否超过预设范围,完成检测。
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