[发明专利]自动对工件进行校正和检测的方法和装置在审

专利信息
申请号: 202111619909.1 申请日: 2021-12-27
公开(公告)号: CN114491953A 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 成亚飞;曾正林 申请(专利权)人: 深圳模德宝科技有限公司
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F30/17;G06F111/10
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 杨志强
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 自动 工件 进行 校正 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种自动对工件进行校正和检测的方法,其特征在于,所述方法包括:

设置工件模型上的基础坐标系,并在所述基础坐标系中设置待检测工件的预设校正点位数据和预设检测点位数据;

根据所述预设校正点位数据、所述预设检测点位数据以及所述基础坐标系,生成校正和检测程序;

确定校正坐标系;

利用所述校正坐标系和所述校正和检测程序、对所述待检测工件进行自动校正和检测,得到检测结果。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在对所述待检测工件进行自动校正和检测之前,所述方法还包括:

根据所述待检测工件的外形尺寸、基础坐标系和检测工具模型进行碰撞仿真运算。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,利用所述校正坐标系和所述校正和检测程序、对所述待检测工件进行自动校正和检测,包括:

在所述校正坐标系的基础上,根据所述预设校正点位数据,生成测量坐标系;

利用所述测量坐标系,对所述待检测工件进行检测,得到检测结果。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,在所述校正坐标系的基础上,根据所述预设校正点位数据,生成测量坐标系,包括:

在所述校正坐标系中,获取所述待检测工件上,与所述预设校正点位数据对应的实际校正点位数据;

确定所述实际校正点位数据与所述预设校正点位数据之间的偏差数据;

根据所述偏差数据,在所述校正坐标系的基础上,生成所述测量坐标系。

5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,利用所述测量坐标系,对所述待检测工件进行检测,得到检测结果,包括:

在所述测量坐标系中,获取所述待检测工件上,与所述预设检测点位数据对应的实际检测点位数据;

确定所述实际检测点位数据与所述预设检测点位数据之间的偏差数据;

根据所述偏差数据,得到所述检测结果。

6.根据权利要求4或5所述的方法,其特征在于,所述校正坐标系和所述基础坐标系的坐标原点的距离差值在预设的范围内;所述测量坐标系和所述基础坐标系的坐标原点重合。

7.一种自动化校正和检测工件装置,其特征在于,所述装置包括:

点位设置模块:用于设置工件模型上的基础坐标系,并在所述基础坐标系中设置待检测工件的预设校正点位数据和预设检测点位数据;

智能系统模块:用于根据所述预设校正点位数据、所述预设检测点位数据以及所述基础坐标系,生成校正和检测程序;

预定位模块:用于创建校正坐标系;

机床控制模块:用于利用所述校正坐标系和所述校正和检测程序、对所述待检测工件进行自动校正和检测,得到检测结果。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述智能系统模块还用于:根据所述待检测工件的外形尺寸、基础坐标系和检测工具模型进行碰撞仿真运算。

9.一种自动化校正和检测工件装置,其特征在于,包括处理器和存储器,所述存储器用于存储指令,所述处理器用于读取所述指令以执行如权利要求1至6中任一项所述的自动对工件进行校正和检测的方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质中存储了计算机程序,所述计算机程序包括程序指令,所述程序指令当被处理器执行时使所述处理器执行如权利要求1至6中任一项所述的方法。

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