[发明专利]代码生成方法、装置、设备和存储介质

说明书

本申请提供一种代码生成方法、装置、设备和存储介质，该方法包括：获取待处理的目标算法对应的配置参数，所述配参数中包括所述目标算法的生成多项式和输入数据位宽；根据所述配置参数生成与所述输入数据位宽匹配的编码数据；根据所述生成多项式对所述编码数据进行逐位计算，确定所述编码数据的每一比特位对应的电路结构表达式。本申请以比特型算法为基础，根据配置参数得到由该算法编码的编码数据，对编码数据进行逐位计算，生成该算法的电路结构表达式，实现了自动推导出算法对应的电路结构，提高了电路设计效率。

技术领域

本申请涉及通信技术领域，具体而言，涉及一种代码生成方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

CRC(Cyclic-Redundancy-Check，循环冗余校验码)校验码，是一种常用的、具有检错、纠错能力的校验码，CRC校验码广泛应用于外存储器和计算机同步通信的数据校验。CRC校验的原理是通过使用某种特定的数学运算来建立数据位和校验位的约定关系的，利用此特定数学运算，在发送端生成CRC校验码，并将CRC校验码附加在要发送的数据后，一起发送到接收端。接收端利用相同的数学运算，对接收到的数据进行CRC校验，从而判断数据在传输过程中是否发生错误。

在ASIC(Application-Specific-Integrated-Circuit，专用集成电路)芯片设计中，为了保证数据的传输正确性，往往需要对数据进行CRC校验，为了获得更高的速度，CRC校验码不通过软件计算生成，而是直接通过硬件电路实现。在CRC校验电路的硬件实现过程中，一个常见的场景是对某一位宽确定的数据块，推导出CRC校验码的电路结构表达式，并用硬件描述语言实现电路设计。针对不同的CRC算法，不同的数据长度，CRC校验电路的实现都不尽相同，用人工推导的方法来求解CRC电路过程非常繁琐，费时费力。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种代码生成方法、装置、设备和存储介质，以比特型算法为基础，根据配置参数得到由该算法编码的编码数据，对编码数据进行逐位计算，生成该算法的电路结构表达式，实现了自动推导出算法对应的电路结构，提高了电路设计效率。

本申请实施例第一方面提供了一种代码生成方法，包括：获取待处理的目标算法对应的配置参数，所述配参数中包括所述目标算法的生成多项式和输入数据位宽；根据所述配置参数生成与所述输入数据位宽匹配的编码数据；根据所述生成多项式对所述编码数据进行逐位计算，确定所述编码数据的每一比特位对应的电路结构表达式。

于一实施例中，所述获取待处理的目标算法对应的配置参数，包括：在接收到待处理的所述目标算法时，判断数据库中是否存在所述目标算法；当所述数据库中存在所述目标算法时，获取用户录入的所述目标算法的第一参数，并提取所述数据库中预存的所述目标算法对应的预设参数，将所述第一参数和所述预设参数作为所述配置参数。

于一实施例中，所述第一参数包括：所述目标算法的输入数据位宽、目标算法标识和校验数据中的一个或多个。

于一实施例中，所述预设参数包括：所述目标算法的生成多项式、初始值、输入反转标志位、输出反转标志位和输出异或值中的一个或多个。

于一实施例中，所述获取待处理的目标算法对应的配置参数，还包括：当所述数据库中不存在所述目标算法时，获取用户录入的所述目标算法的自定义参数，将所述自定义参数作为所述目标算法的配置参数。

于一实施例中，所述自定义参数包括：所述目标算法的输入数据位宽、校验数据、所述目标算法的生成多项式、初始值、输入反转标志位、输出反转标志位和输出异或值中的一个或多个。

于一实施例中，所述根据所述配置参数生成与所述输入数据位宽匹配的编码数据，包括：根据所述输入数据位宽，生成所述目标算法对应的输入数据；根据所述输入反转标志位，处理所述输入数据；在处理后的输入数据末尾添加预设编码值；将添加编码值后的输入数据与所述初始值做异或运算，得到所述编码数据。