[发明专利]一种离散点一阶导数的求解方法及其系统、介质、终端在审

专利信息
申请号: 202111559160.6 申请日: 2021-12-20
公开(公告)号: CN114329341A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 周丽华;方素平;丁康康;吴帆 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G06F17/18 分类号: G06F17/18
代理公司: 合肥市泽信专利代理事务所(普通合伙) 34144 代理人: 方荣肖
地址: 230009 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 离散 一阶 导数 求解 方法 及其 系统 介质 终端
【说明书】:

发明公开了一种离散点一阶导数的求解方法及其系统、介质、终端。所述求解方法为:读取多个离散点数据;对多个离散点采用NURBS样条方法和参数样条方法相结合的曲线拟合方法进行曲线拟合,得到一个整体拟合曲线;根据所述整体拟合曲线对多个离散点进行分段;根据每段中的离散点进行分段曲线拟合,得到多段分段拟合曲线;根据每段的分段拟合曲线计算相应离散点的一阶导数。本发明的曲线拟合采用NURBS样条方法和参数样条方法相结合的方法,解决了传统拟合方法在离散点端点和转折点处误差较大的问题,提高了曲线拟合的精度。本发明通过上述方法可实现离散点一阶导数的精确计算,尤其实现了离散点首末端点处的一阶导数的精确求解,弥补了现有技术的空白。

技术领域

本发明涉及数值微分领域中的一种求解方法及其求解系统、介质与终端,尤其涉及一种离散点一阶导数的求解方法及其求解系统,实现所述离散点一阶导数的求解方法的计算机终端,存储有所述离散点一阶导数的求解方法的计算机可读存储介质。

背景技术

随着现代测量精度的提高,对测量数据的处理要求也越来越高。测量数据一般都是离散点数据,如何精确求解离散点处的切线或一阶导数,成为数据后续处理的关键。目前已有关于离散点一阶导数的求解方法,大多是用传统样条曲线拟合离散点的方法,但是存在离散点端点和转折点处的一阶导数求解精度不高的问题。也有关于一阶导数近似求解的方法,但是求解精度受离散点分布特征的影响较大。

发明内容

为避免现有离散点一阶导数求解方法的不足之处,解决现有曲线拟合在端点和转折点处拟合精度不高的问题,本发明提供一种离散点一阶导数的求解方法及其求解系统,实现所述离散点一阶导数的求解方法的计算机终端,存储有所述离散点一阶导数的求解方法的计算机可读存储介质。

本发明采用以下方案实现:一种离散点一阶导数的求解方法,包括以下步骤:

一、读取n+1个离散点数据;

二、对n+1个离散点采用NURBS样条方法和参数样条方法相结合的曲线拟合方法进行曲线拟合,得到一个整体拟合曲线;

三、根据所述整体拟合曲线对n+1个离散点进行分段;

四、根据每段中的离散点进行分段曲线拟合,得到多段分段拟合曲线;

五、根据每段的分段拟合曲线计算相应离散点的一阶导数。

作为上述方案的进一步改进,在步骤二中,所述整体拟合曲线的曲线拟合方法包括以下步骤:

(2.1)对n+1个离散点进行p次NURBS样条拟合,NURBS样条公式为:

式中,C(u)表示以u为参数的参数曲线,Pi为所述参数曲线的第i个控制顶点,wi表示与控制顶点Pi对应的权因子;i表示控制定点的序号,取值0,1,2,...,n;Ni,p(u)表示与控制顶点Pi相对应的p次基函数,通过如下公式得到:

式中,[v0,v1,v2,...,vm-2,vm-1,vm]表示用于计算参数曲线C(u)的节点向量,m=n+p+1,vi表示节点向量的第i个节点;vi+1表示节点向量的第i+1个节点;vi+p+1表示节点向量的第i+p+1个节点,vi+p表示节点向量的第i+p个节点;

(2.2)令wi=1,p=3,则参数曲线C(u)简化为:

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