[发明专利]一种光学检测方法、系统及存储介质

说明书

本发明提供了一种光学检测方法、系统及存储介质，当控制器获得启动信号时，控制器监控编码器的数值，并记录当前编码器的数值为初始值；当编码器的数值与初始值的差值与任一图像采集传感器的位置参数匹配时，控制器发送触发信号至对应的图像采集传感器；图像采集传感器根据该触发信号进行图像采集；图像处理单元根据采集的图像数据，获得与标准器件的差异比对的图像处理结果并传输至控制器；控制器获得图像处理结果，并传输至处理器；处理器对全部图像处理结果进行汇总处理，得到分类信息并传输至控制器，这样利用控制器和处理器共同配合得到被测器件的分类信息，加快了处理效率，从而进一步提高了光学检测系统的检测速度。

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，具体而言，涉及一种光学检测方法、系统及存储介质。

背景技术

当前电子元件集成度与精细化程度高，相应的针对电子元件产品的检测速度与效率要求也更高了，AOI(Automatically Optical Inspection自动光学检测)检测技术由此应运而生。AOI检测技术的最大优点是节省人力，降低成本，提高生产效率，统一检测标准和排除人为因素干扰，保证了检测结果的稳定性，可重复性和准确性，能够及时发现产品的不良，确保出货质量。

多面体AOI设备，就是通过AOI检测技术、视觉处理等技术，从多个通道对电子元件进行拍摄、分析，从而分辨出DUT(Device Under Test，被测器件)是否存在缺陷，并根据检测结果对DUT进行分类处理。

当前市场上的多面体AOI设备控制系统多采用MCU(微处理单元)作为控制系统的核心。但是采用MCU作为控制核心，对于站点的处理是串行的，也就是同一时间只能检测一个站点的信号，MCU的处理速度直接限制了多面体AOI设备的检测速度。

发明内容

本发明实施例提供一种光学检测方法、系统及存储介质，其能够提高AOI设备的检测速度。

本发明的实施例可以这样实现：

第一方面，本发明提供一种光学检测方法，应用于光学检测系统，所述光学检测系统包括编码器、图像采集单元、图像处理单元、控制器和处理器，所述图像采集单元中包含多个图像采集传感器，所述图像采集单元与所述图像处理单元通信连接，所述编码器、所述图像采集单元、所述图像处理单元及所述处理器均与所述控制器通信连接，所述方法包括：

当所述控制器获得启动信号时，所述控制器监控所述编码器的数值，并记录当前所述编码器的数值为初始值；

当所述编码器的数值与所述初始值的差值与任一所述图像采集传感器的位置参数匹配时，所述控制器发送触发信号至对应的图像采集传感器；

其中，所述控制器中存储有所述图像采集传感器的位置参数；

所述图像采集传感器根据所述触发信号进行图像采集；

所述图像处理单元根据采集的图像数据，获得图像处理结果并传输至所述控制器；所述图像处理结果表征被测器件与标准器件的差异比对结果；

所述控制器获得所述图像处理结果，并传输至所述处理器；

所述处理器对全部所述图像处理结果进行汇总处理，得到分类信息并传输至所述控制器；所述分类信息表征对应的被测器件的分类结果。

在可选的实施方式中，所述控制器中包括FIFO存储单元，所述控制器与所述处理器通过总线进行通信；所述控制器获得所述图像处理结果，并传输至所述处理器的步骤，包括：

所述控制器获得所述图像处理结果，并存储至所述FIFO存储单元；

所述处理器通过所述总线周期性对所述FIFO存储单元进行扫描，得到所述图像处理结果；

所述处理器对全部所述图像处理结果进行汇总处理，得到分类信息并传输至所述控制器的步骤，包括：