[发明专利]一种老化及涨落感知的动态时序分析方法

权利要求书

1.一种老化及涨落感知的动态时序分析方法，其特征在于，分成两个部分，第一部分是门级老化和涨落分析，第二部分是基于事件传播的动态时序分析，其中：

门级老化和涨落分析：门级老化分析是计算每个门级单元在实际的老化后的延迟，表现为延迟的增加；门级涨落分析是计算每个门级单元因为随机工艺涨落的延迟涨落，表现为延迟的标准差；

基于事件传播的动态时序分析：电路节点上的一次信号翻转被定义成一个事件，在建立好时序图后，开始逐个分析每周期的延迟，每周期的时序分析包括：生成输入事件、传播输入事件到时序终点、报告本周期的动态延迟和触发的路径。

2.如权利要求1所述的老化及涨落感知的动态时序分析方法，其特征在于，所述门级涨落分析采用工业标准的涨落单元库模型，其中保存着每个标准单元在不同的输入斜率和输出负载组合下的延迟均值和标准差。

3.如权利要求1所述的老化及涨落感知的动态时序分析方法，其特征在于，所述门级老化分析分为两部分：第一部分工作负载分析，用于计算出每个晶体管的退化值；第二部分门级老化模型，用于计算出每个门级单元退化后的延迟。

4.如权利要求3所述的老化及涨落感知的动态时序分析方法，其特征在于，所述工作负载分析具体为，先通过零延迟的门级电路仿真得到电路内部每个节点的占空比和翻转率，然后根据相应的门级单元的内部连接拓扑关系，解析式地计算出每个晶体管的占空比，最后根据相应工艺节点的器件老化模型计算出此晶体管的退化值。

5.如权利要求3所述的老化及涨落感知的动态时序分析方法，其特征在于，所述门级老化模型如下所示：

delay_aged＝delay_{fres h}+∑a_i×ΔV_thi

tr_aged＝tr_fresh+∑b_i×ΔV_thi

其中a_i,b_i是敏感性系数，与输入斜率和输出负载相关，ΔV_thi是每个晶体管因为退化造成的阈值电压漂移。

6.如权利要求1所述的老化及涨落感知的动态时序分析方法，其特征在于，所述生成输入事件具体为：首先根据输入向量确定输入节点上的输入事件，将当前周期的输入向量与上一周期的输入向量对比，如果有一位不同，意味着相应的输入节点上会发生一个输入事件。

7.如权利要求1所述的老化及涨落感知的动态时序分析方法，其特征在于，所述传播输入事件到时序终点具体为：生成完所有的输入事件，事件将依次在线上和门级单元上传播，门级单元会根据所有的输入事件生成输出事件，直到时序终点为止。

8.如权利要求7所述的老化及涨落感知的动态时序分析方法，其特征在于，所述新生成的事件到达时间均值等于输入事件的到达时间加上门级单元延迟的均值以及老化引起的延迟增加量，而输出事件到达时间的标准差等于输入事件到达时间的标准差和门级单元延迟的标准差的平方和再开根号。

9.如权利要求1所述的老化及涨落感知的动态时序分析方法，其特征在于，所述报告延迟和触发的路径具体为：等到每一级的事件传播都完成，就遍历所有的时序终点，找到最大的到达时间，就是本周期的延迟，根据此事件反向寻找触发其的事件，就可以找到本周期触发的路径。