[发明专利]一种单轴坐标外推方法

说明书

本发明公开一种单轴坐标外推方法，包括：在单轴载体上选取两个节点，且一个节点为基准点，另一个节点为参考点；基于ECEF坐标系对基准点和参考点进行位置标定，以得到ECEF坐标系下基准点和参考点的位置坐标；根据ECEF坐标系下基准点和参考点的位置坐标，获取ENU坐标系下参考点与基准点之间的坐标偏差；根据ENU坐标系下参考点与基准点之间的坐标偏差，获取ENU坐标系下单轴载体上待标定点的位置坐标；以及根据ENU坐标系下待标定点的位置坐标，获取ECEF坐标系下待标定点的位置坐标。本发明可以根据单轴载体上基准点和参考点在ECEF坐标系下的位置坐标外推出单轴载体上难以直接进行位置标定的待标定点在ECEF坐标系下的位置坐标，从而实现整个单轴载体的位置标定。

技术领域

本发明涉及坐标外推技术领域，尤其涉及一种单轴坐标外推方法。

背景技术

在人们日常的生产生活中，经常会用到单轴系统(例如轨道)上各地物精确的位置信息，这就需要对各地物进行位置标定。然而，受实际环境的影响，某些地物的位置坐标难以标定，比如山洞、河流、高山和沼泽等；为满足人们的应用需求，急需一种方法来获取难以进行位置标定的地物的位置坐标。

发明内容

本发明的目的在于提供一种单轴坐标外推方法，可以根据单轴载体上基准点和参考点在ECEF坐标系下的位置坐标外推出单轴载体上难以直接进行位置标定的待标定点在ECEF坐标系下的位置坐标，从而实现整个单轴载体的位置标定。

为了达到上述目的，本发明通过以下技术方案实现：

一种单轴坐标外推方法，包括：

在单轴载体上选取两个节点，且一个节点为基准点，另一个节点为参考点；

基于ECEF坐标系对所述基准点和所述参考点进行位置标定，以得到ECEF坐标系下所述基准点和所述参考点的位置坐标；

根据ECEF坐标系下所述基准点和所述参考点的位置坐标，获取ENU坐标系下所述参考点与所述基准点之间的坐标偏差；

根据ENU坐标系下所述参考点与所述基准点之间的坐标偏差，获取ENU坐标系下所述单轴载体上待标定点的位置坐标；以及

根据ENU坐标系下所述待标定点的位置坐标，获取ECEF坐标系下所述待标定点的位置坐标。

优选地，所述根据ECEF坐标系下所述基准点和所述参考点的位置坐标，获取ENU坐标系下所述参考点与所述基准点之间的坐标偏差的步骤包括：

根据ECEF坐标系下所述基准点和所述参考点的位置坐标，计算ECEF坐标系下所述参考点与所述基准点之间的坐标偏差；

根据ECEF坐标系下所述参考点和所述基准点之间的坐标偏差，获取ENU坐标系下所述参考点与所述基准点之间的坐标偏差。

优选地，ECEF坐标系下所述参考点与所述基准点之间的坐标偏差采用如下公式进行计算：

(dx₁,dy₁,dz₁)＝(x₁-x₀，y₁-y₀，z₁-z₀)

其中，(dx₁,dy₁,dz₁)表示ECEF坐标系下所述参考点与所述基准点之间的坐标偏差；(x₀,y₀,z₀)表示ECEF坐标系下所述基准点的位置坐标；(x₁,y₁,z₁)表示ECEF坐标系下所述参考点的位置坐标。

优选地，ENU坐标系下所述参考点与所述基准点之间的坐标偏差采用如下公式进行计算：